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蔡司GeminiSEM系列高對比度、低電壓成像的場發(fā)射掃描電子顯微鏡
具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備*佳的靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。
運用GeminiSEM系列產(chǎn)品，您可輕松**真實世界中任意樣品出色的圖像和可靠的分析結(jié)果
GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在較低的加速電壓下仍可呈現(xiàn)給您*強的信號和*豐富的細節(jié)信息，其**設(shè)計的NanoVP可變壓力模式，甚至讓您在使用時擁有在高真空模式下工作的感覺;
GeminiSEM 450 具有出色的易用性設(shè)計、*快的響應(yīng)和*高的表面靈敏度，使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析，充當(dāng)您的得力助手;
GeminiSEM 300 具有出色的分辨率、*高的襯度和*大且無畸變的成像視野，可方便地選取適合樣品的真空度等環(huán)境參數(shù)，使FESEM初學(xué)者也能快速掌握;
| 基本規(guī)格 | 蔡司 GeminiSEM 500 | 蔡司 GeminiSEM 450 | 蔡司 GeminiSEM 300 |
|---|---|---|---|
| 熱場發(fā)射電子槍，穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h | |||
| 加速電壓 | 0.02 - 30 kV | ||
| 探針電流 | 3 pA - 20 nA | 3 pA - 40 nA | 3 pA - 20 nA |
| （100 nA配置可選） | （100 nA或300 nA配置可選） | （100 nA配置可選） | |
| 存儲分辨率 | 較高達32k × 24k 像素 | ||
| 放大倍率 | 50 – 2,000,000 | 12 – 2,000,000 | 12 – 2,000,000 |
| 標(biāo)配探測器 | 鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測器 | ||
| 樣品室內(nèi)的Everhart Thornley二次電子探測器 | |||
可選配的 項目 | 鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測器 | ||
| - | 角度選擇背散射探測器 | 角度選擇背散射探測器 | |
| 環(huán)形STEM探測器（aSTEM 4） | |||
| EDS能譜儀 | |||
| EBSD探測器(背散射電子衍射) | |||
| NanoVP可變壓力模式 | |||
| VPSE探測器（包含在NanoVP可變壓力選件中） | |||
| 局部電荷中和器 | |||
| 可訂制特殊功能樣品臺 | |||
| 環(huán)形背散射電子探測器 | |||
| 陰*射線熒光探測器 | |||
