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      激光干涉膜厚測量儀

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱上海昊量光電設(shè)備有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)Xper-IP
      • 所  在  地上海市
      • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
      • 更新時(shí)間2022/8/19 17:17:20
      • 訪問次數(shù)639
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      上海昊量光電設(shè)備有限公司是目前國內(nèi)光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,也是近年來發(fā)展迅速的光電代理企業(yè)。除了擁有一批專業(yè)技術(shù)銷售工程師之外,還有擁有一支強(qiáng)大技術(shù)和支持隊(duì)伍。我們的技術(shù)和支持團(tuán)隊(duì)可以為客戶提供完整的設(shè)備安裝,培訓(xùn),硬件開發(fā),軟件開發(fā),系統(tǒng)集成等工作。不但為客戶提供適合的產(chǎn)品,而且為客戶提供完善的服務(wù)是我們始終秉承的理念!

      自2008年成立以來,昊量光電專注于光電領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)與產(chǎn)品經(jīng)銷,致力于引進(jìn)國外很具*性與創(chuàng)新性的光電技術(shù)與可靠產(chǎn)品,為國內(nèi)前沿的科研與工業(yè)領(lǐng)域提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),助力中國智造與中國創(chuàng)造! 目前,昊量光電已經(jīng)與來自美國、歐洲、日本的多家光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關(guān)系。其代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、精密光學(xué)元件等,所涉足的領(lǐng)域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究與國防等。

      昊量光電堅(jiān)持“專業(yè)源自專注,專注成就未來”的經(jīng)營理念。近年來,我們專注于前沿的細(xì)分市場,為量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、*激光制造等領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)解決方案。

      秉承誠信、高效、創(chuàng)新、共贏的核心價(jià)值觀,昊量光電堅(jiān)持以誠信為基石,憑借高效的運(yùn)營機(jī)制和勇于創(chuàng)新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創(chuàng)造價(jià)值,實(shí)現(xiàn)各方共贏!

      立足于光電產(chǎn)業(yè),昊量光電始終堅(jiān)持價(jià)值創(chuàng)造與創(chuàng)新,贏得客戶與合作伙伴的認(rèn)可,不斷拓展業(yè)務(wù)領(lǐng)域的新邊疆,立志打造*的代理服務(wù)品牌!

      分析儀,光譜儀
      激光干涉膜厚測量儀*的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。
      激光干涉膜厚測量儀 產(chǎn)品信息

      Xper-IP激光干涉膜厚測量儀是基于Nanobase公司*的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料(如各種薄膜,鍍膜,顯示面板等)的厚度。

      韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領(lǐng)域的高科技公司,旗下有多種產(chǎn)品,包括拉曼光譜成像系統(tǒng),OCT光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng),可調(diào)諧激光器和激光干涉薄厚測量儀。

       

      Xper-IP激光干涉膜厚測量儀正是基于Nanobase*的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料(如各種薄膜,鍍膜,顯示面板等)的厚度,產(chǎn)品具有以下特點(diǎn):

       

      精度 ±0.2 %

      重復(fù)準(zhǔn)度 ±0.003 %

      超寬測量范圍 10 mm to 1 mm
      人性化軟件,易于使用

      性價(jià)比高

      同時(shí)測量多層膜厚

      結(jié)構(gòu)堅(jiān)固,適用于實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)環(huán)境

       

      參數(shù)

       

      型號(hào)

      Xper-ITP(激光干涉測厚)

      Xper-ISP(激光干涉測表面形貌)

      測量范圍

      100-1000微米,200-2000微米,(或者定制波長范圍,與光譜儀分辨率成反比)

      準(zhǔn)確度

      ±0.2 %

      重復(fù)性

      單點(diǎn):0.01% full range(<100nm)

      平均:0.003% full range(<30nm)

      速度

      激光:標(biāo)準(zhǔn)30pps,(大100,000pps)

      光源

      激光:SLD(840nm)

       

      關(guān)鍵詞:光譜儀
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