硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HT夾具底部帶有加熱板,利用高溫加速OLED器件的老化,進行高溫條件下的器件壽命測試
硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HT加熱工位參數(shù)
溫度范圍: 室溫 - 100 ℃ (室溫 -120℃可選)
溫度精度: ±1℃,溫度波動±0.2℃
軟件功能
(1) 測量模式:恒壓、恒流、恒亮模式
(2) 測量數(shù)據(jù):測量時間、樣品信息、電流、電壓、光感電壓、預估壽命、亮度衰減比、溫度
(3) 測量圖表:衰減比實時電流/電壓/衰減曲線
(4) 測量時間:三個時間段設計,每個時間段可以分別設置測量時間間隔等參數(shù)
(5) 發(fā)光點測量的獨立性:每個發(fā)光點可以獨立設置電壓或電流等參數(shù),共有96組電壓和96組電流輸出,以及96組電流和電壓的獨立測量
(6) 光學壽命測量時,每個發(fā)光點可以獨立開始和停止測量,每個發(fā)光點均可設置獨立的三段測試時間和間隔.支持用戶在測試過程中,增加或 更換其中幾片產(chǎn)品
(7) 圖表實時查詢:支持圖表在測量過程中實時查詢,不必等待測量結(jié)束后再看數(shù)據(jù)和圖表
(8) 曲線圖:支持選擇電壓、電流、亮度衰減、壽命時長等數(shù)據(jù),在圖表里顯示曲線。
(9) 測量前預處理功能:可以設定的需要預處理的溫度值、電流、電壓值和時間等參數(shù),正常測量前先以預處理條件進行老化,然后再進 入正常壽命測試程序。
(10) 數(shù)據(jù)實時存儲,異?;謴秃罂烧一財?shù)據(jù)并繼續(xù)測試(中斷的時間不累積,能自動減除)
(11) Datalog及Eventlog實時記錄