粉體強(qiáng)度測(cè)試儀 粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀 粉體壓縮強(qiáng)度分析儀

型號(hào)：BXA34

BXA34粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀

一.原理和理論：顆粒在壓縮時(shí)要經(jīng)歷初步壓縮、顆粒重排、初始結(jié)構(gòu)形成、彈性形變、塑性形變、顆粒破碎、結(jié)合鍵形成、進(jìn)一步壓實(shí)及去除壓力后的彈性恢復(fù)等系列變化，顆粒結(jié)構(gòu)被破壞并發(fā)生重組形成新的結(jié)合鍵及壓縮體；通過(guò)對(duì)粉體施加屈服強(qiáng)度變形所需的主應(yīng)力，來(lái)分析粉體的體積變化與壓力關(guān)系即（主應(yīng)力與粉體密度的變化關(guān)系），時(shí)間與屈服強(qiáng)度變化關(guān)系，屈服強(qiáng)度與壓縮高度變化關(guān)系，采用經(jīng)驗(yàn)方程法：Heckel、Kawakita、Adams方程及川北方程線(xiàn)性回歸方程的壓縮理論來(lái)分析粉體顆粒新品、研發(fā)固體產(chǎn)品比如在藥物處方及工藝選擇方面及壓實(shí)密度對(duì)壓力的要求等的預(yù)測(cè)性分析工具.

本機(jī)型還可以實(shí)現(xiàn)粉體電阻、電阻率、電導(dǎo)率的測(cè)量（導(dǎo)體粉末），可通過(guò)粉體壓縮與阻抗的變化關(guān)系或者粉末體壓縮過(guò)程中的靜電測(cè)量（絕緣粉體顆粒）.通過(guò)電性能的變化來(lái)判斷粉體壓縮特性.

BXA34粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀

二.目前比較認(rèn)可的壓縮成形機(jī)理認(rèn)為：粒子受壓時(shí)，粒子間距離很近，從而在粒子間產(chǎn)生范德華力，靜電力等的引力；粒子受壓時(shí)，其塑性形變使粒子間的接觸面積增大；粒子受壓破碎時(shí)，產(chǎn)生的新生表面有較大表面自由能；粒子受壓變形時(shí)，粒子相互嵌合而產(chǎn)生的機(jī)械結(jié)合力；粒子受壓時(shí)，由于摩擦力而產(chǎn)生的熱，特別是顆粒間支撐點(diǎn)處局部溫度較高，使熔點(diǎn)較低的物料部分地熔融，解除壓力后重新固化而在粒子間形成 “固體橋”；在水溶性粒子的接觸點(diǎn)處析出結(jié)晶而形成的 “固體橋”。

BXA34粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀

三.粉體強(qiáng)度測(cè)試儀 粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀 粉體壓縮強(qiáng)度分析儀  功能介紹：采用液壓恒壓加壓測(cè)量系統(tǒng)，7寸觸摸屏控制，高精度荷重單元控制系統(tǒng)能精確采集應(yīng)力變化數(shù)據(jù)，可以任意設(shè)置壓力、時(shí)間數(shù)據(jù)，位移數(shù)據(jù)由位移傳感器直讀，溫濕度數(shù)據(jù)通過(guò)傳感器獲得，多位數(shù)的AD芯片來(lái)保障數(shù)據(jù)的分析，全自動(dòng)模式，手動(dòng)操作模式及多段設(shè)置操作模式并存；配置PC軟件可以獲得應(yīng)力與粉體密度關(guān)系曲線(xiàn)；時(shí)間與粉體屈服強(qiáng)度關(guān)系；川北方程線(xiàn)性回歸方程的常數(shù) u，v變化關(guān)系及時(shí)間流動(dòng)函數(shù)關(guān)系過(guò)程數(shù)據(jù)的分析和曲線(xiàn)圖譜，為生產(chǎn)企業(yè)和科研院所研發(fā)新品和改善工藝建立數(shù)據(jù)模型.

BXA34粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀

四.粉體強(qiáng)度測(cè)試儀 粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀 粉體壓縮強(qiáng)度分析儀  適用范圍：食品、藥品、粉末冶金、陶瓷、制藥、化工、建筑等行業(yè)需要經(jīng)過(guò)壓縮或者壓鑄的粉末和顆粒物料；對(duì)粉末固體成形性及壓縮性在新品開(kāi)發(fā)，中試放大及生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行分析研究，常用于粉體企業(yè)上下游產(chǎn)業(yè)，粉體科研院所和大中專(zhuān)院校，為粉體在強(qiáng)度性能，可壓縮性和流動(dòng)性方面獲得可靠的數(shù)據(jù).

BXA34粉體壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀

五.  技術(shù)指標(biāo)：