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      Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱北京億誠(chéng)恒達(dá)科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地北京市
      • 廠商性質(zhì)代理商
      • 更新時(shí)間2020/11/20 10:08:27
      • 訪問次數(shù)397
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      公司主營(yíng)1,電化學(xué)工作站;旋轉(zhuǎn)盤電極,石英晶體微天平;

      2,熱分析儀,TG-DTA,DSC,TG-DTA-MS,TMA;
      3,原子力顯微鏡,三維表面形貌儀,輪廓儀,臺(tái)階儀;
      4,材料疲勞試驗(yàn)機(jī),高頻疲勞試驗(yàn)機(jī),摩擦試驗(yàn)機(jī);
      5,儲(chǔ)氫材料PCT測(cè)試儀,氣體純化器;
      6,EL-CELL鋰電池電化學(xué)膨脹儀。

      電化學(xué)工作站,原子力顯微鏡,疲勞試驗(yàn)機(jī),熱分析儀等
      Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡
      執(zhí)行高分辨率、高對(duì)比度成像,對(duì)磁性樣本也不例外
      使用的 Trinity 檢測(cè)套件同步檢測(cè)材料、形態(tài)和邊緣對(duì)比度,從而分析材料的全部屬性
      借助漂移抑制光刻,無(wú)需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片,甚至可以對(duì)非導(dǎo)電材料進(jìn)行操作 生成三維數(shù)據(jù)立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布,或?qū)α鸭y各個(gè)方向的應(yīng)力
      Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

      Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡

      FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系統(tǒng),能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。FEI Scios 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性,非常適于學(xué)院、和工業(yè)研究環(huán)境中的納米量級(jí)研究與分析。

       

      高級(jí)檢測(cè)技術(shù)是 FEI Scios 的核心技術(shù)。透鏡內(nèi) FEI Trinity™ 檢測(cè)技術(shù)能夠同時(shí)收集所有信號(hào),既節(jié)省了時(shí)間還能形成鮮明的對(duì)比度,從而有助于采集盡可能多的數(shù)據(jù)。創(chuàng)新的透鏡下同心后散射檢測(cè)器能提高效率,使您可以根據(jù)信號(hào)的角分布選擇信號(hào),從而輕松分離材料和形態(tài)對(duì)比度,即使著陸能量為 20 eV 也是如此。

      Scios 的材料科學(xué)應(yīng)用

       

      Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復(fù)合物和涂層等眾多材料,能夠: 

      • 執(zhí)行高分辨率、高對(duì)比度成像,對(duì)磁性樣本也不例外 

      • 使用的 Trinity 檢測(cè)套件同步檢測(cè)材料、形態(tài)和邊緣對(duì)比度,從而分析材料的全部屬性 

      • 借助漂移抑制光刻,無(wú)需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片,甚至可以對(duì)非導(dǎo)電材料進(jìn)行操作 

      • 生成三維數(shù)據(jù)立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布,或?qū)α鸭y各個(gè)方向的應(yīng)力和應(yīng)變進(jìn)行分析 

      • 搭配 EasyLift™ 可快速可靠地制備高質(zhì)量樣本,而且只需小的電子束能量即可獲得質(zhì)量的 S/TEM 結(jié)果 

      • 針對(duì) DealBeam TM 常見應(yīng)用提供的“用戶指南”和逐步工作流,使得任何經(jīng)驗(yàn)水平的操作員都能即刻上手

      FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系統(tǒng),能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。FEI Scios 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性,非常適于學(xué)院、工業(yè)研究環(huán)境中的納米量級(jí)研究與分析。

       

      高級(jí)檢測(cè)技術(shù)是 FEI Scios 的核心技術(shù)。透鏡內(nèi) FEI Trinity™ 檢測(cè)技術(shù)能夠同時(shí)收集所有信號(hào),既節(jié)省了時(shí)間還能形成鮮明的對(duì)比度,從而有助于采集盡可能多的數(shù)據(jù)。創(chuàng)新的透鏡下同心后散射檢測(cè)器能提高效率,使您可以根據(jù)信號(hào)的角分布選擇信號(hào),從而輕松分離材料和形態(tài)對(duì)比度,即使著陸能量為 20 eV 也是如此。

      Scios 的材料科學(xué)應(yīng)用

       

      Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復(fù)合物和涂層等眾多材料,能夠: 

      • 執(zhí)行高分辨率、高對(duì)比度成像,對(duì)磁性樣本也不例外 

      • 使用的 Trinity 檢測(cè)套件同步檢測(cè)材料、形態(tài)和邊緣對(duì)比度,從而分析材料的全部屬性 

      • 借助漂移抑制光刻,無(wú)需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片,甚至可以對(duì)非導(dǎo)電材料進(jìn)行操作 

      • 生成三維數(shù)據(jù)立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布,或?qū)α鸭y各個(gè)方向的應(yīng)力和應(yīng)變進(jìn)行分析 

      • 搭配 EasyLift™ 可快速可靠地制備高質(zhì)量樣本,而且只需小的電子束能量即可獲得質(zhì)量的 S/TEM 結(jié)果 

      • 針對(duì) DealBeam TM 常見應(yīng)用提供的“用戶指南”和逐步工作流,使得任何經(jīng)驗(yàn)水平的操作員都能即刻上

      有效的生物成像需要使用能夠支持眾多不同應(yīng)用且不會(huì)降低對(duì)比度和分辨率的多功能設(shè)備。FEI Scios 是一款特別易于使用且能力極其出眾的儀器,能使您的眾多不同應(yīng)用和工作流更具靈活性,功能更強(qiáng)大,而且借助高效和增值工作流, Scios 能讓您在短時(shí)間內(nèi)獲得極為準(zhǔn)確的結(jié)果

       

      有效的生物成像需要使用能夠支持眾多不同應(yīng)用且不會(huì)降低對(duì)比度和分辨率的多功能設(shè)備。FEI Scios 是一款特別易于使用且能力極其出眾的儀器,能使您的眾多不同應(yīng)用和工作流更具靈活性,功能更強(qiáng)大,而且借助高效和增值工作流, Scios 能讓您在短時(shí)間內(nèi)獲得極為準(zhǔn)確的結(jié)果

       Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡

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