溫度測(cè)量范圍從50℃到1800℃
- 采用2.3μm短波段的探測(cè)器,適用于金屬和陶瓷材料加工
- 微型探頭設(shè)計(jì),直徑14mm和28mm的長(zhǎng)度適合任何場(chǎng)合
- 無(wú)須冷卻可耐85℃的環(huán)境溫度
- 可以測(cè)量50℃以上的金屬表面溫度
- *短波段的探測(cè)器可以有效降低發(fā)射率設(shè)置導(dǎo)致的測(cè)量偏差
溫度范圍:(可通過(guò)設(shè)置鍵或軟件來(lái)調(diào)節(jié),目標(biāo)溫度>探頭環(huán)境溫度+25℃)
50~400℃(3ML)
100~600℃(3MH)
150~1000℃(3MH1)
200~1500℃(3MH2)
250~1800℃(3MH3)
光譜響應(yīng):2.3μm
系統(tǒng)精度:±(0.3%讀數(shù)+2℃)(發(fā)射率=1,響應(yīng)時(shí)間為1s;環(huán)溫23±5℃)
響應(yīng)時(shí)間:1ms
光學(xué)分辨率:22:1(3ML) 、 33:1(3MH)、 75:1(3MH1-H3)