主要特點(diǎn)

• 獨(dú)立的450kV微焦點(diǎn)射線源

• 大可掃描樣品的尺寸達(dá)到直徑500mm，高度600mm

• 可走入式的大鉛房以及大型的樣品艙門讓樣品的放置以及維護(hù)檢測(cè)變得更加方便

• 五軸樣品操作臺(tái)大載重可達(dá)100kg

• 高效率的線陣探測(cè)器與面陣平板探測(cè)器可以同時(shí)搭載以滿足不同需求。（選配）

• 專門為渦輪葉片定制的質(zhì)量合格判斷應(yīng)用程序

引進(jìn)功能

• 將靈活性整合到一個(gè)系統(tǒng)里:X射線快速可視化檢測(cè)，CT重構(gòu)精密解析

• 快速獲取高品質(zhì)圖像

• 人機(jī)交互式操作桿導(dǎo)航界面使用快速直觀

• 高清晰度數(shù)字圖像與圖像處理

• 不需要特別外加防護(hù)的完備安全系統(tǒng)

• 通用于業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的后處理應(yīng)用格式

用途

• 渦輪葉片的內(nèi)部構(gòu)造與詳細(xì)分析

• 渦輪葉片的合格與否自動(dòng)判定

• 幾十微米級(jí)別要求的金屬零件跟鑄件等的精度檢測(cè)

XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測(cè)，

帶有高功率450kV微焦點(diǎn)X射線源

Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測(cè)量和中小鑄件NDT檢測(cè)的新參考標(biāo)準(zhǔn)。這臺(tái)功能強(qiáng)大的設(shè)備的核心部件是一個(gè)450kV微焦點(diǎn)源，可提供超高分辨率和超高精度。

彎曲的線性陣列探測(cè)器通過消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會(huì)影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測(cè)器是一臺(tái)非常靈活的設(shè)備，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片、鑄件等

優(yōu)點(diǎn) 可靈活地整合在單個(gè)系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測(cè)，CT可用于深入分析

快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像

高分辨率數(shù)字成像和處理

嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無需任何特殊的預(yù)防措施或安全警示標(biāo)志

特性

*的450kV微焦點(diǎn)源

測(cè)量體積可達(dá)600mm直徑和600mm高度

高效線性探測(cè)器，>80%量子檢測(cè)有效率

五軸*可編程托盤式操縱器，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌

特別適用于渦輪葉片的自動(dòng)通過/不通過檢測(cè)

應(yīng)用

渦輪葉片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)分析

葉片的自動(dòng)通過/不通過檢測(cè)

需要微米精度的高密度部件檢測(cè)（例如金屬件、鑄件）