英國(guó)abi JTAGMASTER邊界掃描測(cè)試儀簡(jiǎn)介
可編程邏輯器件(pld)配置和診斷的*集成解決方案。
一種邊界掃描測(cè)試儀,可任意觀察單個(gè)管腳,從而確定其功能。此信息可以保存在可自定義的測(cè)試過程中,該過程還可以包括圖片和數(shù)據(jù)表。EXTEST模式也可用于手動(dòng)更改管腳的狀態(tài)并跟蹤對(duì)鏈中其他設(shè)備的影響。掃描檢查是一個(gè)多許可證軟件,可以在多個(gè)站點(diǎn)上運(yùn)行邊界掃描檢查。
一種編程接口,用于處理工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JAM STAPL文件(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試和編程語(yǔ)言)和SVF文件(串行矢量格式),以便向設(shè)備發(fā)送編程指令和測(cè)試功能。ABI使用JTAG標(biāo)準(zhǔn)(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組,與IEEE1149.1兼容),確保所有兼容IC之間的兼容性。
英國(guó)abi JTAGMASTER邊界掃描測(cè)試儀還能夠使用外部適配器對(duì)EEPROM器件進(jìn)行編程。 支持標(biāo)準(zhǔn)brinary文件,也可以在設(shè)備緩沖區(qū)窗口中對(duì)其進(jìn)行修改。 庫(kù)中存在各種EEPROM器件,用戶可以輕松對(duì)其進(jìn)行修改。
JTAGMaster支持以下協(xié)議:串行外設(shè)接口(SPI);集成電路間(I2C);微線(μwire)。