QUINTSONIC德國EPK QUINTSONIC超聲波涂層測厚儀
德國EPK Minitest3100涂層測厚儀具有連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值,還具有連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值,浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送。
德國EPK Minitest3100涂層測厚儀具有連續(xù)測量模式快速測量,還具有連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值,浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送。
配不同探頭可測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):
• 鋼鐵基體上的非磁性覆層
• 有色金屬上的絕緣覆層
• 絕緣基體上的有色金屬覆層
為高精度測厚儀,也可叫覆層測厚儀。
-技術參數(shù):
-其他型號對應的技術參數(shù):
-探頭參數(shù):
◆探頭 量程 低端 誤差 zui小曲率半徑 zui小測量 zui小基 探頭尺寸
◆分辨率 (凸/凹) 區(qū)域直徑 體厚度
◆磁 F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
◆感 F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
◆應 F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm
◆法 F2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm
◆F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
◆F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
◆F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
◆F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm
◆兩 FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm
◆用 FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm/N50μm φ21x89mm
◆FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm
◆電 N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
◆渦 N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
◆流 N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
◆法 N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm
◆N2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 50μm φ15x62mm
◆N2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm
◆N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
◆N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
◆N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
◆CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm
-其他探頭參數(shù):
1.CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
2.F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
3.N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻
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