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臺式硅酸根分析儀 庫存 庫號：D183834

臺式硅酸根分析儀 庫存 庫號：D183834

臺式硅酸根分析儀/數(shù)顯硅酸根分析儀/二氧化硅分析儀/硅表/光電比色硅酸根分析儀/硅酸根比色計/實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C庫號：D183834

技術(shù)參數(shù)

測量范圍 0~199.9μg/LSiO2

基本誤差≤±2.5%FS

重復性誤差≤±0.5%FS

短期漂移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS

長期漂移(24小時） ： ≤±2.5%FS

化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89

技術(shù)參數(shù)

測量范圍 0~199.9μg/LSiO2

基本誤差≤±2.5%FS

重復性誤差≤±0.5%FS

短期漂移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS

長期漂移(24小時） ： ≤±2.5%FS

化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89

技術(shù)參數(shù)

測量范圍 0~199.9μg/LSiO2

基本誤差≤±2.5%FS

重復性誤差≤±0.5%FS

短期漂移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS

長期漂移(24小時） ： ≤±2.5%FS

化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89

技術(shù)參數(shù)

測量范圍 0~199.9μg/LSiO2

基本誤差≤±2.5%FS

重復性誤差≤±0.5%FS

短期漂移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS

長期漂移(24小時） ： ≤±2.5%FS

化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89