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上海一實(shí)儀器設(shè)備廠

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小型低濕試驗(yàn)箱|臺(tái)式低濕試驗(yàn)箱|桌上型低濕試驗(yàn)箱

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更新時(shí)間：2024-08-21 17:31:31瀏覽次數(shù)：139次

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上海一實(shí)儀器設(shè)備廠

經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：46條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：段瓊

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

一實(shí)桌上型低濕恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要是由歐洲研發(fā)中心推出的試驗(yàn)箱，緊湊的設(shè)計(jì)，特別適合實(shí)驗(yàn)室，高校，研究所的小樣品試驗(yàn)場(chǎng)所。運(yùn)用DHSPLCON技術(shù)將低濕小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱使用壽命大

詳細(xì)介紹

　一實(shí)桌上型低濕恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要是由歐洲研發(fā)中心推出的試驗(yàn)箱，緊湊的設(shè)計(jì)，特別適合實(shí)驗(yàn)室，高校，研究所的小樣品試驗(yàn)場(chǎng)所。運(yùn)用DHSPLCON技術(shù)將低濕小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱使用壽命大大延長(zhǎng)。一實(shí)儀器成型于歐洲，產(chǎn)銷于國(guó)內(nèi)，對(duì)標(biāo)，價(jià)格親民。為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗(yàn)樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗(yàn)+濕度環(huán)境。適用于各類高校，專業(yè)實(shí)驗(yàn)室研究開(kāi)發(fā)及對(duì)空間要求較高環(huán)境使用。

　　產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

　　款式多樣，規(guī)格齊全

　　緊湊，機(jī)身小容積大

　　帶視窗設(shè)計(jì)，歐司朗高亮度照明

　　模擬環(huán)境多樣化，一臺(tái)可頂多臺(tái)低端設(shè)備

　　占地小，體重輕，可2臺(tái)乃至多臺(tái)疊放

　　操作方便：標(biāo)配彩色觸摸屏控制，兼有程序設(shè)定功能

　　可移動(dòng)性強(qiáng)，噪聲低，溫濕度范圍廣，節(jié)能省電環(huán)保

　　控制器具有可進(jìn)行可靠性試驗(yàn)用的恒定值運(yùn)轉(zhuǎn)設(shè)定，還有針對(duì)溫度特性試驗(yàn)用的溫濕度組合交變等的編程設(shè)定功能

　　記錄量大：實(shí)時(shí)記錄大亮采樣數(shù)據(jù)，并可是現(xiàn)在PC機(jī)上打印曲線

　　高可靠性：為提高整機(jī)的可靠性，主要部件有國(guó)內(nèi)外專業(yè)廠商提供

　　安全保護(hù)：溫度過(guò)升保護(hù)，試品保護(hù)，設(shè)備自身保護(hù)，操作人員安全保護(hù)

　　

　　其他：
　　使用環(huán)境溫度：+5～+35℃ (降溫保障+5～+28℃)
　　安全配置：漏電保護(hù)、短路保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過(guò)載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過(guò)載保護(hù)、超溫保護(hù)、相序/缺相保護(hù)

　　附件標(biāo)準(zhǔn)配置：
　　照明燈*1
　　直徑50mm引線孔*1；
　　AISI304樣品架：1個(gè)
　　通訊方式： USB（標(biāo)配）
　　圓形腳輪：4只（50L以上）

　　選配：
　　以太網(wǎng)/ /CF/SD存儲(chǔ)卡（選配）
　　RS485/232（選配）

合作伙伴：

　　技術(shù)參數(shù)

容積	L	16	27	37	50	100
溫度范圍	℃	0（-20，-35，-65）/180
溫度波動(dòng)度	℃	±0.3~±1.0	±0.1~±0.5
溫度均勻度	℃	±0.5~±2.0	±0.5~±1.5
升溫速率	℃/min	2.0~3.0
降溫速率	℃/min	0.7~1.0
濕度范圍	%RH	（超低濕）15%~98%/（極低濕）1%~98%
工作室尺寸(mm)	W	310	300	400	370	400
	D	230	300	300	370	500
	H	205	300	300	370	500
外形尺寸 (mm)	W	510	500	600	570	600
	D	770	840	930	1100	1220
	H	650	760	830	1100	1125
負(fù)載	Kg/㎡	200
噪音	dB(A)	52	54	55	56	56
電源		220V±10% 50HZ
功率	KW	1.0	1.0	1.5	1.8	2.2
冷卻方式		風(fēng)冷

　　執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

　　GBT 10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫 IEC 60068-2-1:2007

　　GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫 IEC 60068-2-2:2007

　　GB/T2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)IEC 60068-2-78:2001

　　GB/T2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

　　IEC 60068-2-30:2005

　　GBT 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab 設(shè)備用恒定濕熱IEC 60068-2-56:1988IDT

　　GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化IEC 60068-2-14:1984

　　GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分: 高溫試驗(yàn)

　　GJB150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分: 低溫試驗(yàn)

關(guān)鍵詞：恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱恒濕試驗(yàn)箱觸摸屏控制器

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