嘉興市大臻電子科技有限公司
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| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
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- 經(jīng)銷(xiāo)商 廠(chǎng)商性質(zhì)
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訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：604更新時(shí)間：2022-02-13 08:06:07
功能特點(diǎn)：
全中文操作鍵膜，簡(jiǎn)捷易懂
全中文顯示，主從式菜單，并設(shè)計(jì)有快捷按鍵和數(shù)碼飛梭旋輪，操作便捷，技術(shù)
全數(shù)字增強(qiáng)型場(chǎng)致高亮顯示（EL），強(qiáng)光下無(wú)需使用遮光罩
高性能安保電池模塊便于拆裝，可以脫機(jī)獨(dú)立充電，大容量高性能鋰離子電池模塊使儀器連續(xù)工作時(shí)間延長(zhǎng)在十小時(shí)以上
儀器輕小便攜，單手即可以把持，經(jīng)久耐用，引導(dǎo)行業(yè)潮流。
檢測(cè)范圍： （0~9999）mm
工作頻率： （0.25~20）MHz
聲速范圍： （1000~9999）m/s
動(dòng)態(tài)范圍： ≥36dB
垂直線(xiàn)性誤差：≤2.5%
水平線(xiàn)性誤差：≤0.1%
分 辨 力： >40dB（5P14）
靈敏度余量： 65dB（深200mmФ2 平底孔）
數(shù)字抑制： （0~80）%，不影響線(xiàn)性與增益
電噪聲電平： ≤8%
探傷通道：100組探傷工作通道。
探頭接口：Q9-C9
探頭類(lèi)型： 直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭
閘 門(mén)： 進(jìn)波門(mén)、失波門(mén)；單閘門(mén)讀數(shù)、雙閘門(mén)讀數(shù)
報(bào) 警： 蜂鳴報(bào)警，LED 燈報(bào)警
電 源： 直流（DC）9V；鋰電池連續(xù)工作10小時(shí)以上
外型尺寸： 263×170×61（mm）
環(huán)境溫度： （-10~50）℃
相對(duì)濕度： （20~95）%RH
注：以上指標(biāo)是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所測(cè)得的。
放大接收：
硬件實(shí)時(shí)采樣：10 位AD 轉(zhuǎn)換器，采樣速度160MHz，硬件實(shí)時(shí)采樣，波形高度保真
檢波方式：正半波、負(fù)半波、全波、射頻檢波
濾波頻帶（0.25~20）MHz，根據(jù)探頭頻率全自動(dòng)匹配，無(wú)需手動(dòng)設(shè)置。
閘門(mén)讀數(shù)：?jiǎn)伍l門(mén)和雙閘門(mén)讀數(shù)方式可選；閘門(mén)內(nèi)峰值讀數(shù)
增益：總增益量110dB，設(shè)0、0.1dB、1dB、2dB、6dB 步進(jìn)值，*的全自動(dòng)增
益調(diào)節(jié)及掃查增益功能，使探傷既快捷又準(zhǔn)確。
探傷功能：
波峰記憶：實(shí)時(shí)檢索缺陷zui高波，記錄缺陷zui大值
Φ值計(jì)算：直探頭鍛件探傷找準(zhǔn)缺陷zui高波后自動(dòng)計(jì)算、顯示缺陷當(dāng)量尺寸
缺陷定位：實(shí)時(shí)顯示缺陷水平、深度（垂直）、聲程位置
缺陷定量：缺陷當(dāng)量dB 值實(shí)時(shí)顯示
缺陷定性：通過(guò)回波包絡(luò)波形，方便人工經(jīng)驗(yàn)判斷
曲面修正：用于曲面工件探傷，可實(shí)時(shí)顯示缺陷周向位置
DAC/AVG：曲線(xiàn)自動(dòng)生成，取樣點(diǎn)不受限制，并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。曲線(xiàn)隨增益自動(dòng)浮動(dòng)、隨聲程自動(dòng)擴(kuò)展、隨延時(shí)自動(dòng)移動(dòng)。能顯示任意孔徑的AVG 曲線(xiàn)。
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)：可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標(biāo)準(zhǔn)。
裂紋測(cè)高：利用端點(diǎn)衍射波自動(dòng)測(cè)量、計(jì)算裂紋高度。
門(mén)內(nèi)展寬：放大回波細(xì)節(jié)，便于回波分析
動(dòng)態(tài)記錄：檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄波形，存儲(chǔ)、回放
板厚輸入：輸入工件厚度，二次波三次波及多次波探的缺陷儀器顯示缺陷實(shí)際深度。
焊縫圖示：顯示焊縫坡口形式和聲束走向，直觀(guān)顯示缺陷位置。
波形凍結(jié)：凍結(jié)屏幕上顯示的波形，便于缺陷分析
B 型掃描：實(shí)時(shí)掃查、橫截面顯示，可顯示工件缺陷形狀，使探測(cè)結(jié)果更直觀(guān)。
