數(shù)字集成電路多值邏輯測(cè)試儀 型號(hào):VV522-Simi100庫號(hào)：M264585數(shù)字集成電路多值邏輯測(cè)試儀◆利用的多值比較法對(duì)器件進(jìn)行快速的參數(shù)和功能綜合測(cè)試?！?用戶可按不同的要求選擇測(cè)試模式，對(duì)器件進(jìn)行直流參數(shù)測(cè)試。以區(qū)分IC品質(zhì)，快速分選。實(shí)用。經(jīng)該產(chǎn)品測(cè)試過的器件，可以放心地上機(jī)使用，解決產(chǎn)品質(zhì)量問題?！魯?shù)字IC功能參數(shù)測(cè)試儀。操作簡(jiǎn)便，測(cè)試成本低廉，實(shí)用。產(chǎn)品主要性能:在功能測(cè)試的基礎(chǔ)上測(cè)試器件的輸人端注人電流。測(cè)試器件的輸人端交叉漏電流。測(cè)試器件的輸出端“三態(tài)"及“OC"門。測(cè)試器件的輸出負(fù)載電流。測(cè)試器件的功耗電流。查找未知芯片型號(hào)?？梢詥未螠y(cè)試，也可以循環(huán)測(cè)試.可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件(如: 74C、74HC、74HCT等)。當(dāng)被測(cè)芯片被確認(rèn)為74系列CMOS器件時(shí)，儀器將自動(dòng)地對(duì)其進(jìn)行測(cè)試并在顯示屏前顯示一一個(gè)“C"字(此時(shí)被測(cè)器件電源為TTL電源)。本產(chǎn)品所提供的多值測(cè)試參數(shù):8種可選擇的測(cè)試電源。根據(jù)不同材料的IC設(shè)置多種輸入端注入電流。多種測(cè)試電壓比較值。功耗測(cè)試。以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成不同的測(cè)試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測(cè)試模式。測(cè)試模式:模式O:全組合參數(shù)測(cè)試。模式1-C:操作與模式0相同，但各有其不同的測(cè)試參數(shù)數(shù)值。模式D:任選輸人負(fù)載電流及測(cè)試電源和輸人電流測(cè)試。模式E:自檢。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分，顯示、鍵盤及測(cè)試管腳電路。模式F:自編程測(cè)試。測(cè)試范圍及測(cè)試品種:54系列; 4500 系列;RAM 256K bit74系列; 40000 系列:EPROM 64K bit4000系列: C0O系列。光耦目前市場(chǎng)上所見到的某些功能測(cè)試儀無法對(duì)IC器件進(jìn)行直流參數(shù)測(cè)試和比較，因此會(huì)把74LS373與74LS374、74LS352、74LS353、74LS125 與74LS32及OC門與圖騰柱輸出]等功能性能特性不致的器件混為一類。 這種儀器實(shí)用價(jià)值很低，用儀器測(cè)試通過后，有時(shí)上機(jī)卻不能正常使用。本產(chǎn)品不會(huì)發(fā)生類似錯(cuò)誤。該產(chǎn)品適合器件廠、整機(jī)廠作器件測(cè)試篩選之用，也適合科研、學(xué)校、、IC 經(jīng)銷商使用。它是科技工程

技術(shù)人員開發(fā)新產(chǎn)品的得力工具。