IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號ZY-Drr

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更新時間：2025-03-21 13:16:45瀏覽次數(shù)：61次

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西安智盈電氣科技有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：30條

所在地區(qū)：陜西西安市

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產(chǎn)品簡介

IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)該系統(tǒng)是針對IGBT器件的開關(guān)特性及內(nèi)部續(xù)流二極管的反向恢復特性而推出的全自動測試系統(tǒng)。適用于電流小于4500A，集電極電壓小于6000V，續(xù)流二極管正向電流小于4500A的IGBT器件的特性參數(shù)測試。

詳細介紹

系統(tǒng)概述

IGBT廣泛應用于現(xiàn)代中、大功率變換器中，其開關(guān)特性決定裝置的開關(guān)損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性，直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關(guān)元件的開關(guān)性能具有極其重要的實際意義。IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

該系統(tǒng)是針對IGBT 器件的開關(guān)特性及內(nèi)部續(xù)流二極管的反向恢復特性而推出的全自動測試系統(tǒng)。適用于電流小于4500A，集電極電壓小于6000V，續(xù)流二極管正向電流小于4500A的IGBT 器件的特性參數(shù)測試。

參數(shù)條件IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

	開通特性	關(guān)斷特性	氣動夾具
測試參數(shù)	開通延遲	10-1000ns±5%±10ns Tj=25oC和125 oC	關(guān)斷延遲	10-2000ns±5%±10nS Tj=25oC和125 oC	壓力： 5000Pa的品牌空壓機供氣。控溫范圍： 25℃-200℃ 控溫精度： ±1.0℃±1% 器件接觸： 20 個探針的接觸矩陣
上升時間	10-1000ns±5%±10ns Tj=25oC和125 oC	下降時間	10-2000ns±5%±10nS Tj=25oC和125 oC
開通能量	1-1000mJ±5%±0.1 mJ Tj=25oC和125 oC	關(guān)斷能量	1-1000mJ±5%±0.1 mJ Tj=25oC和125 oC
測試條件	集電極電壓	50-3500V±5% 根據(jù)用戶要求定制	集電極電壓	50-3500V±5% 根據(jù)用戶要求定制
集電極電流	50-1500A±5% 根據(jù)用戶要求定制	集電極電流	50-1500A±5% 根據(jù)用戶要求定制
負載	20-1000uH	負載	20-1000uH
柵極電壓	±15V±3%±0.2V
柵極電荷	一次短路 / 脈寬10uS / 短路電流10KA
短路測試	反向恢復電流 / 反向恢復時間 / 反向di / dt
二極管反向參數(shù)	400-20000nC

系統(tǒng)單元

開通時間測試單元	該系統(tǒng)的測試單元通過電容充放電原理產(chǎn)生電流波形，測試時根據(jù)不同的測試條件，設(shè)定測試電壓，再通過調(diào)節(jié)不同的電感值或選擇不同的測試脈沖寬度來輸出測試要求的電流值，測試的電壓和電流波形同時被采集到示波器，并由示波器與工控機直接通訊，將采集數(shù)據(jù)傳輸給計算機，計算機經(jīng)過處理后,將測試數(shù)據(jù)以表格形式顯示并進行最終的編輯和打印。
關(guān)斷時間測試單元
柵極電荷測試單元
計算機控制單元
PLC控制單元
氣動壓力夾具
二極管反向恢復測試單元

關(guān)鍵詞：工控機示波器 IGBT 數(shù)據(jù)傳輸

商鋪：http://towegas.com/st315798/

主營產(chǎn)品：參數(shù)測試設(shè)備：靜態(tài)參數(shù),動態(tài)參數(shù)（開通關(guān)斷/反向恢復/短路/安全工作區(qū)）測試等）；雪崩能力測試，老化及可靠性。參數(shù)測試設(shè)備：靜態(tài)參數(shù)；動態(tài)參數(shù)（開通關(guān)斷/反向恢復/短路/安全工作區(qū)）測試等）；老化及可靠性二管及可控硅/晶閘管）參數(shù)測試設(shè)備：靜態(tài)參數(shù)測試；動態(tài)參數(shù)測試；浪涌參數(shù)測試；老化及可靠性測試（高溫阻斷）；熱阻參數(shù)測試產(chǎn)品以高度集成化、智能化、高速超寬測試范圍等競爭優(yōu)勢，將廣泛應用于、器件設(shè)計、制造、封裝廠商及高校研究所等

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