便攜式氣象站 庫(kù)存 庫(kù)號(hào):M366012
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武漢愛疆科技有限公司
產(chǎn)品型號(hào)ASC32A+
品 牌愛疆科技 AI JIANG TECHNOLOGY
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地武漢市
聯(lián)系方式:小疆查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間:2024-11-11 15:11:28瀏覽次數(shù):112次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 智能制造網(wǎng)技術(shù)參數(shù) | A+A+A+標(biāo)準(zhǔn) | 長(zhǎng)脈沖 | 10-100ms(可調(diào)) |
---|---|---|---|
產(chǎn)能 | <4S(10ms),<18S(100ms) | 可測(cè)面積 | 2600mm×1600mm(典型面積) |
光源方向 | 側(cè)打光光源 | 光譜范圍 | 300-1200nm(MAX:1800nm,可定制) |
閃光時(shí)間 | 10-100ms | 輻照度范圍 | 200-1200W/m2(可定制) |
ASC32A+系列太陽(yáng)電池組件測(cè)試儀專為實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì),采用側(cè)向直射式光源,模擬真實(shí)太陽(yáng)光,覆蓋300-1200nm全光譜,脈寬10ms至100ms可調(diào),并具等效脈寬技術(shù)。該設(shè)備三大核心指標(biāo)超行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)高效晶硅電池全光譜測(cè)試。支持五種智能掃描方法,滿足定制化需求。同時(shí),集成EL測(cè)試功能,一次接線即可完成電性能與EL缺陷檢測(cè)。適用于晶體硅(PERC、N型、TOPcon、HJT等)、薄膜電池等。
ASC32A+系列太陽(yáng)電池組件測(cè)試儀是專門針對(duì)實(shí)驗(yàn)室用戶而研發(fā),為側(cè)向直射式光源結(jié)構(gòu),模擬真實(shí)太陽(yáng)光照射條件,滿足300-1200nm全光譜,脈沖寬度10ms至100ms可調(diào),同時(shí)具有等效脈寬技術(shù),100ms脈寬可等效500ms測(cè)試效果。設(shè)備滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求:1.A+A+A+性能;不均勻度、光譜匹配度、光強(qiáng)穩(wěn)定度三大核心性能指標(biāo)均超過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。2。全光譜;光譜范圍滿足300-1200nm范圍,實(shí)現(xiàn)高效晶硅電池的全光譜測(cè)試,測(cè)試準(zhǔn)確性大幅提高。3.五種智能掃描方法:常規(guī)線性掃描方法、局部掃描方法、遲滯掃描方法、分段掃描方法、非線性掃描方法,操作靈活,適用于實(shí)驗(yàn)室客戶定制化測(cè)試方案需求。4.支持EL測(cè)試功能,一臺(tái)機(jī)器同時(shí)具有兩種不同類型的測(cè)試功能,能夠同時(shí)滿足測(cè)量太陽(yáng)電池組件的電性能與EL缺陷檢測(cè)的要求,一次接線,兩種測(cè)試。
測(cè)試對(duì)象:適用于晶體硅太陽(yáng)能電池組件(PERC、N型、TOPcon以及HJT等)、支持MBB、半片、疊片等組件、支持薄膜電池組件的電性能參數(shù)的測(cè)試、缺陷檢測(cè)和結(jié)果記錄及導(dǎo)出。
u A+A+A+標(biāo)準(zhǔn):高于IEC60904-9 2020標(biāo)準(zhǔn)
u 300-1200nm全光譜:更加真實(shí)反映組件在各波段響應(yīng)能力
u 適合各類電池研究、輔材研究實(shí)驗(yàn)室
u 電子負(fù)載:掃描方向支持Isc→Voc和Voc→Isc兩種模式
u 智能掃描方法:常規(guī)線性掃描方法、局部掃描方法、遲滯掃描方法、分段掃描方法、非線性掃描方法
u 測(cè)量對(duì)象:PERC、N型、HJT、IBC、TOPcon、CIGS、普通晶硅等技術(shù)組件
u 輻照度:調(diào)節(jié)范圍可定制,低至200 W/m2
u 支持EL測(cè)試功能:一次接線,兩種測(cè)試
設(shè)備型號(hào) | ASC32A+ | |
生產(chǎn)指標(biāo) | ||
產(chǎn)能 | <4S(10ms),<18S(100ms) | |
可測(cè)面積 | 2600mm×1600mm(典型面積) | |
光源方向 | 側(cè)打光光源 | |
上料方式 | 手動(dòng) | |
IV測(cè)試模塊指標(biāo) | ||
太陽(yáng)模擬器光源等級(jí) | A+A+A+ | |
太陽(yáng)模擬器等級(jí)標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60904-9 2020 | |
校準(zhǔn)方式 | 標(biāo)準(zhǔn)組件單次自動(dòng)校準(zhǔn)光強(qiáng) | |
光譜匹配 | 0.875-1.125 (A+級(jí)) | |
幅照度不穩(wěn)定性 | STI<0.2% LTI<1%(A+級(jí)) | |
幅照度不均勻性 | <1% (A+級(jí)) | |
光譜范圍 | 300-1200nm(MAX:1800nm,可定制) |
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