可靠性技術(shù) 探索環(huán)測行業(yè)科技之路 ——首屆華南（東莞）環(huán)境與可靠性試驗技術(shù)論壇取得圓滿成功 5月15日，為了解和探討國內(nèi)針對環(huán)境與可靠性技術(shù)研究和應(yīng)用的進(jìn)展、促進(jìn)行業(yè)技術(shù)的交流，由中國儀器儀表學(xué)會泛珠三角區(qū)域分會聯(lián)盟、廣東省儀器儀表學(xué)會、華南計量測試中心、廣東省計量科學(xué)研究院、星球資訊（香港）有限公司、《環(huán)境技術(shù)》雜志社等聯(lián)合主辦的2009年華南（東莞）環(huán)境與可靠性試驗技術(shù)論壇在東莞厚待·廣東現(xiàn)代展覽中心隆重舉辦。

           論壇現(xiàn)場 業(yè)內(nèi)精英齊聚一堂中國計量科學(xué)研究院、*張鐘華院士、*劉人懷院士、中國儀器儀表學(xué)會副理事長兼秘書長吳幼華、華南計量測試中心、廣東省計量科學(xué)研究院副院長潘嘉生、中興通迅股份有限公司可靠性測試中心彭軼總監(jiān)、廣東省計量科學(xué)研究院總工程師陳明華、中國電器科學(xué)研究院工程師張志勇和中國賽寶實驗室可靠性與環(huán)境工程中心主任紀(jì)春陽等國內(nèi)科研院所、企業(yè)的專家以及眾多業(yè)內(nèi)精英齊聚一堂。

             *嘉賓合影論壇由廣東省儀器儀表學(xué)會袁鴻秘書長主持。中國計量科學(xué)研究院、*張鐘華院士、中國儀器儀表學(xué)會秘書長兼副理事長吳幼華、華南計量測試中心、廣東省計量科學(xué)研究院副院長潘嘉生以及深圳市*孫楠處長致辭。張鐘華院士（左圖） 、吳幼華秘書長（右圖） 致辭在會上，中國儀器儀表學(xué)會副理事長兼秘書長吳幼華指出，環(huán)境與可靠性試驗技術(shù)是當(dāng)今現(xiàn)代科技重要的技術(shù)熱點話題，也是我國科學(xué)發(fā)展中的瓶頸和軟肋，*的儀器儀表與測量控制技術(shù)是打開這一關(guān)鍵之門的鑰匙。的儀器儀表打造需要仰賴業(yè)界科技精英奮力拼搏、歉收并蓄、博采眾長、尋求突破，而高水平的技術(shù)交流正是這突破的基礎(chǔ)鋪墊和有效手段。 論壇上，張鐘華院士作了以“21世紀(jì)計量及可靠性試驗技術(shù)發(fā)展趨勢”為主題的演講，他總結(jié)到，21世紀(jì)中，與飛速發(fā)展的工農(nóng)業(yè)、科學(xué)技術(shù)相適應(yīng)，計量及檢測技術(shù)發(fā)展迅速。

               以量子物理為基礎(chǔ)的新型計量標(biāo)準(zhǔn)將全面代替?zhèn)鹘y(tǒng)的實物基標(biāo)準(zhǔn)。國家及社會對計量、檢測技術(shù)高度重視，可以預(yù)見我國在這方面必將有令人矚目的新發(fā)展。與會專家學(xué)者作主題報告隨后，華南國家計量測試中心/廣東省計量科學(xué)研究院能源計量部羅旭東部長、中國電工電子產(chǎn)品機械試驗標(biāo)委會秘書長賽寶實驗可靠性工程研究中心紀(jì)春陽主任、廣州威凱檢測技術(shù)研究院、環(huán)境技術(shù)檢測所材料檢測站張志勇副站長、中興通訊股份有限公司質(zhì)量部可靠性測試中心彭軼 總監(jiān)等與會專家對環(huán)境與可靠性技術(shù)作了主題報告?！?/p>

                現(xiàn)場互動答疑本次技術(shù)論壇以“產(chǎn)品的環(huán)境與可靠性試驗技術(shù)”為主題，就計量及可靠性試驗技術(shù)發(fā)展趨勢、電子產(chǎn)品的可靠性測試、氣候老化試驗方法及性能評價、氣候試驗設(shè)備、老化篩選方法等熱點議題進(jìn)行探討與交流。此次論壇旨在搭建一個國內(nèi)環(huán)境與可靠性試驗技術(shù)方面的專家和企業(yè)之間的溝通平臺，增進(jìn)國內(nèi)在產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性和可靠性試驗技術(shù)的交流。其成功舉辦將對進(jìn)一步提高國內(nèi)工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性與可靠性方面的試驗、評價和技術(shù)水平、改進(jìn)產(chǎn)品的性能、提高產(chǎn)品的質(zhì)量、增強產(chǎn)品市場競爭力起到積極的意義。