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武漢普賽斯電子股份有限公司
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地武漢市
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更新時(shí)間:2024-05-08 13:53:03瀏覽次數(shù):76次
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PSS COCT2000支持COC器件(支持DFB/EML/Tunable)常溫和高溫下的LIV綜合測試和光譜測試。與我司COC老化系統(tǒng)配套使用,通過老化前后測試對比,篩選出不良產(chǎn)品。本機(jī)具有高集成度、高效率、高穩(wěn)定性的特點(diǎn)。
PSS COCT2000支持COC器件(支持DFB/EML/Tunable)常溫和高溫下的LIV綜合測試和光譜測試。與我司COC老化系統(tǒng)配套使用,通過老化前后測試對比,篩選出不良產(chǎn)品。本機(jī)具有高集成度、高效率、高穩(wěn)定性的特點(diǎn)。
產(chǎn)品應(yīng)用
• COC LIV測試
• COC OSA測試
• LD Chip可靠性驗(yàn)證
• LD Chip失效分析
產(chǎn)品特點(diǎn)
• 采用自動(dòng)運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)測試探頭對不同孔位的器件進(jìn)行測試
• LIV測試采用積分球收光測試,收光范圍大,重復(fù)性高
• OSA測試采用準(zhǔn)直透鏡與多模光纖組合收光,自動(dòng)耦合算法進(jìn)行耦合
• 系統(tǒng)采用TEC進(jìn)行溫度控制,溫度穩(wěn)定,升降溫速度快
• 軟件可支持多種光譜儀,可定制
• 可靠的加電EOS防護(hù)
• 重復(fù)性測試一致性好
重新放置夾具,同一芯片重復(fù)多次測試,一致性結(jié)果為:Ith變化<0.8%,Po變化<0.5%。優(yōu)秀的重復(fù)性,大幅降低COC老化測試條件下的誤判率,進(jìn)一步提高生產(chǎn)廠家的良率,降低成產(chǎn)成本。
測試主機(jī)參數(shù) | 指 標(biāo) | ||
電性能參數(shù) | LD驅(qū)動(dòng)電流 | 0~500mA | |
LD驅(qū)動(dòng)電流檢測 | 0~500mA | ||
LD電壓 | 0~5V | ||
EA電壓范圍 | -5V~0V | ||
EA電流 | 0~250mA | ||
驅(qū)動(dòng)模式 | CW/PW | ||
支持波長范圍 | 1000nm~1600nm | ||
溫控參數(shù) | 溫度范圍 | 15°C~100°C | |
| 升溫速度 | 典型值:6°C/Min | |
| 降溫速度 | 典型值:5°C/Min | |
| 溫度穩(wěn)定性 | 典型值:±0.3°C | |
| 溫度一致性 | 典型值:±1°C | |
上位機(jī) | 共享 | 共享dll | |
| 數(shù)據(jù)庫 | 系統(tǒng)自帶SQL數(shù)據(jù)庫,支持遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)庫和MES系統(tǒng) | |
單顆測試時(shí)間 | LIV綜合測試 | 1.5S | |
| 光譜測試 | 2S,典型值(單點(diǎn)測試光譜) | |
安裝需求 | 指 標(biāo) | 備注 | |
系統(tǒng)電源 | AC 220V 50HZ | 兩相三線制 | |
測試主機(jī)額定功率 | 0.5KW |
| |
工作環(huán)境溫度 | 25℃±2℃ |
| |
主機(jī)占地 | 4㎡ |
|
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