窄脈沖TO測試機

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更新時間：2024-05-08 13:45:41瀏覽次數(shù)：52次

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武漢普賽斯電子股份有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：63條

所在地區(qū)：湖北武漢市

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產(chǎn)品簡介

窄脈沖TO測試系統(tǒng)主要應用于TO的LIV、光譜、發(fā)散角自動測試，設備支持TO/COB自動上料、自動下料，可兼容客戶使用的上下料載具，測試工作臺支持溫度控制，可實現(xiàn)TO在設定溫度下測試；系統(tǒng)全自動運行，穩(wěn)定高效，方便客戶批量測試。與大功率窄脈沖TO抽屜老化系統(tǒng)配套使用，是一套完整的大功率窄脈沖TO可靠性實驗方案，窄脈沖TO測試系統(tǒng)支持老化前后測試和對比，數(shù)據(jù)存儲與分析。

詳細介紹

產(chǎn)品應用

• 3D傳感、激光雷達等大功率激光應用的TO/COB封裝的性能測試
• 適合實驗室驗證或小批量測試

產(chǎn)品特點

• 集成自制超窄脈沖 SMU、最小脈沖到 100ns，電流 30A
• 脈沖保證有平頂區(qū)，支持峰值檢測，保證測試真實性
• ???????測試載臺采用高導熱材料，TEC溫控，溫度范圍可支持25~85°C
• ???????測試與老化夾具兼容，不需要轉料
• ???????支持快速光譜測試
• ???????支持遠場發(fā)散角測試
• 支持近場測試，均勻性與壞點檢測

???????

參數(shù)	指標
測試類型	TO56、COB
脈沖電流輸出	0~30A
脈沖性能	脈寬：≥100ns；占空比：≤0.1%
脈沖電流測量	0~30A
脈沖電壓輸出	0~40V
脈沖電壓測量	0~40V
光功率檢測	外接積分球，功率范圍：10W~200W
溫控方式	TEC溫控
溫控性能	溫控范圍：25℃~+85℃ 溫控波動性：±0.5℃ 溫控速度：升溫15℃/min ，降溫10℃/min，@25℃~85℃
光譜測試功能	支持
近場測試功能	1、發(fā)光孔數(shù)2、暗壞點孔數(shù)3、均勻性4、可測試范圍：2*2mm
測試效率	LIV測試時間小于4s（掃描1000點/脈沖周期1ms） LIV測試+光譜測試小于7s（掃描1000點/脈沖周期1ms）
輸入電源	AC220V/50Hz/ 8A
氣源條件	正壓：≥0.5MPa，流量120L/min