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美能光伏科技（江蘇）有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地蘇州市
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更新時間：2024-05-07 12:43:50瀏覽次數(shù)：121次
聯(lián)系我時，請告知來自 智能制造網(wǎng)WCT儀器展示Sinton的測量和分析技術(shù)，包括半標準準穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)系數(shù)（QSSPC)測量方法，該方法由Sinton公司在1994年研發(fā)。載流子合復(fù)壽命經(jīng)過準確校準的測量方式，廣泛應(yīng)用于太陽能單晶和多晶硅片。
的瞬態(tài)光電導(dǎo)技術(shù)
QSSPC技術(shù)對于監(jiān)測多晶硅硅片，摻雜劑的擴散，和低壽命樣本是理想的技術(shù)。這種方法補充了瞬態(tài)光電導(dǎo)技術(shù)的運用。瞬態(tài)光電導(dǎo)技術(shù)在這臺設(shè)備上也是標準的。
QSSPC壽命測量
QSSPC壽命測量也產(chǎn)生隱含的開路電壓（與lllumination)曲線，這可以與an1-v曲線在太陽能電池過程的各個階段進行比較。
優(yōu)秀的軟件數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
Sinton設(shè)備的分析能為每個晶片產(chǎn)生校準載流子注入水平，所以你可以以一個物理上的方式解讀壽命數(shù)據(jù)。每次測量都會顯示和記錄特定的參數(shù)。
WCT系統(tǒng)功能
單擊即可鎖定晶硅片的關(guān)鍵參數(shù)，包括方塊電阻、少子壽命、陷阱密度、發(fā)射極飽和電流密度和暗電壓
?制造過程的逐步監(jiān)測和優(yōu)化
?監(jiān)測初始材料質(zhì)量
?晶片加工過程中檢測重金屬雜質(zhì)
?評估表面鈍化和發(fā)射極摻雜擴散
?使用隱含V測量評估過程引起的分流
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