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      上海德竹芯源科技有限公司


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      SENTECH-激光橢偏儀 - (SE 400adv)

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      具體成交價以合同協(xié)議為準

      產(chǎn)品型號SE 400adv

      品       牌

      廠商性質(zhì)其他

      所  在  地上海

      聯(lián)系方式:查看聯(lián)系方式

      更新時間:2024-05-15 09:05:10瀏覽次數(shù):98次

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      產(chǎn)品簡介

      激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù),具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400adv 表征吸收膜特征。

      詳細介紹

      亞埃精度

      穩(wěn)定的氦氖激光器保證了 0.1 埃精度的超薄單層薄膜厚度測量。

      擴展激光橢偏儀的極限

      性能優(yōu)異的多角度手動角度計和角度精度*的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數(shù)和膜厚。

      高速測量

      激光橢偏儀 SE 400adv 的高速測量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長和終點檢測,或做樣品均勻性的自動掃描。

      激光橢偏儀 SE 400adv 可用于從可選擇的、應(yīng)用特定的入射角度表征單層薄膜和基片。自動準直透鏡確保在大多數(shù)平坦反射表面的吸收或透明襯底上進行準確測量。多角度測量的集成支持(40°—90°,5° 步進),可用于確定層疊的厚度、折射率和消光系數(shù)。為了補償激光橢偏測量中厚度測量的模糊性,厚度測量中也采用了多角度測量。

      激光橢偏儀 SE 400adv,用于超薄單層薄膜的厚度測量。小型臺式儀器由橢偏儀光學部件、角度計、樣品臺、自動準直透鏡、氦氖激光光源和檢測單元組成。激光橢偏儀 SE 400adv 的選項支持在微電子、光伏、數(shù)據(jù)存儲、顯示技術(shù)、生命科學、金屬加工等領(lǐng)域的應(yīng)用。




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