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      行業(yè)產(chǎn)品

      • 行業(yè)產(chǎn)品

      上海德竹芯源科技有限公司


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      X'Pert3 MRD 高分辨X射線衍射儀

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      參  考  價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

      產(chǎn)品型號XPert3 MRD

      品       牌

      廠商性質(zhì)其他

      所  在  地上海

      聯(lián)系方式:查看聯(lián)系方式

      更新時間:2024-05-15 09:03:51瀏覽次數(shù):107次

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      產(chǎn)品簡介

      高分辨率X射線衍射儀,主要用途為測量 Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb 等化合半導(dǎo)體材料的單晶和外延層材料的結(jié)晶完整性,外延層及相應(yīng)半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)的組分、厚度、弛豫度等參數(shù)的測定,外延結(jié)構(gòu)的晶格失配及應(yīng)變狀態(tài)分析,X-Y map均勻性分析,雙軸晶和三軸晶X射線衍射,對稱和非對稱掃描,Out-of-plane 和 In-plan......

      詳細(xì)介紹

      設(shè)備功能

      倒易空間掃描(RSM) – 一分鐘完成自動掃描及自動分析

      高分辨衍射(HRXRD) – W/2T,2T/W,2T……掃描

      搖擺曲線(Rocking Curve) – W 掃描

      反射率(XRR) – 材料密度,厚度,粗糙度(Option)

      晶格參數(shù)(Lattice parameter),晶向(Orientation)及晶面鑒定(Reflection plane)

      切角(Off-Cut)及平辺方向(Flat)鑒定

      晶體缺陷鑒定(Defect)

      曲率半徑鑒定(Curvature)

      應(yīng)力(Strain)及弛裕度(relaxation)鑒定

      晶格失配率鑒定(Mismatch)

      成份分析,厚度分析

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