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上海德竹芯源科技有限公司
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Camtek為半導體行業(yè)提供廣泛的檢測和量測解決方案。Camtek的檢測和量測設備能夠在高產量下可靠地檢測出有缺陷的IC，確保只有已知良好的芯片才能最終交付給客戶的產品。
出色的2D檢測能力
● 算法提供的亞微米缺陷檢測
● 可導入CAD設計圖，基于圖紙檢測
● 多層RDL應用的清晰視覺光源
● 切割后晶片的內部裂紋檢查（ICI）
● 背光照明技術
的平臺
● 定制光學器件
● 高強度LED照明
● 顯著提高了產量
突出點
● 檢測靈敏度Bright Field-0.42μm；Dard Field-0.3μm
● 多重放大，優(yōu)化靈敏度
● 可用分區(qū)域的檢測算法，以優(yōu)化靈敏度
● 可導入CAD設計圖，基于圖紙檢測
● 能夠在一個檢測周期內使用不同的聚焦、放大倍率、光源、靈敏度和檢測引擎運行連續(xù)掃描
● 設備互匹配-從設備到設備的簡單配方傳輸
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