實驗室半導體晶圓高低溫真空探針臺測試腔

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參考價: ￥ 128000

訂貨量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號KT-Z160T-RL

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廠商性質生產(chǎn)商

所在地鄭州市

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聯(lián)系方式：裴勇查看聯(lián)系方式

更新時間：2023-05-04 16:48:08瀏覽次數(shù)：255次

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鄭州科探儀器設備有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：100條

所在地區(qū)：河南鄭州市

聯(lián)系人：裴勇（銷售）

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產(chǎn)品簡介

實驗室半導體晶圓高低溫真空探針臺測試腔，用于霍爾效應霍爾效應測試儀、探針臺系列、顯微鏡系列測試儀、探針臺系列、顯微鏡系列。

詳細介紹

一、應用原理：
（1）實驗室半導體晶圓高低溫真空探針臺測試腔，國內家研發(fā)探針臺設備廠家，有強大技術研發(fā)實力真空高低溫探針臺系統(tǒng)。
（2）使用國際上*的溫度控制系統(tǒng)和傳感器，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度），溫度穩(wěn)定性可達0.1K。

二、實驗室半導體晶圓高低溫真空探針臺測試腔技術參數(shù)：

真空腔體
腔體材質	304不銹鋼
上蓋開啟	鉸鏈側開
加熱臺材質	304不銹鋼
內腔體尺寸	φ160x90mm
觀察窗尺寸	Φ70mm
加熱臺尺寸	φ60mm
觀察窗熱臺間距	75mm
加熱臺溫度	﹣196~350℃
加熱臺溫控誤差	±1℃
真空度	機械泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa
允許正壓	≤0.1MPa
真空抽氣口	KF25真空法蘭
氣體進氣口	3mm-6mm卡套接頭
電信號接頭	SMA轉BNC X 4
電學性能	絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質耐壓 ≤500V
探針數(shù)量	4探針
探針材質	鎢針
探針尖	10μm
探針移動平臺
X軸移動行程	30mm ±15mm
X軸控制精度	≤0.01mm
Y軸移動行程	13mm ±12.5mm
Y軸控制精度	≤0.01mm
Z軸移動行程	13mm ±12.5mm
Z軸控制精度	≤0.01mm
電子顯微鏡
顯微鏡類別	物鏡
物鏡倍數(shù)	0.7-4.5倍
工作間距	90mm
相機	sony 高清
像素	1920※1080像素
圖像接口	VGA
LED可調光源	有
顯示屏	8寸
放大倍數(shù)	19-135倍,視場范圍15×13-2.25×1.7mm，最小可分辨0.08mm