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      武漢普賽斯儀表有限公司
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      半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)CV+IV特性曲線掃描儀

      參   考   價: 1000

      訂  貨  量: ≥1 臺

      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

      產(chǎn)品型號SPA6100

      品       牌普賽斯儀表

      廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

      所  在  地武漢市

      更新時間:2024-01-15 09:55:18瀏覽次數(shù):689次

      聯(lián)系我時,請告知來自 智能制造網(wǎng)
      上市時間:
      2024-4-30
      創(chuàng)  新 點:
      30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力;
        
        測量精度高,全量程下可達0.03%精度;
        
        在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線;
        
        提供靈活的夾具定制方案,兼容性強;
        
        免費提供上位機軟件及SCPI指令集;
      SPA-6100型半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)CV+IV特性曲線掃描儀可以幫助用戶根據(jù)測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,同時檢測10kHz至1MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測量

      半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)CV+IV特性曲線掃描儀概述:

      SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研究、半導(dǎo)體芯片器件設(shè)計以及先進工藝的開發(fā),具有桌越的測量效率與可靠性。

      基于模塊化的體系結(jié)構(gòu)設(shè)計,SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助用戶根據(jù)測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,同時檢測10kHz至1MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測量。SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀搭載普賽斯自主開發(fā)的專用半導(dǎo)體參數(shù)測試軟件,支持交互式手動操作或結(jié)合探針臺的自動操作,能夠從測量設(shè)置、執(zhí)行、結(jié)果分析到數(shù)據(jù)管理的整個過程,實現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征;也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,滿足高低溫測試需求。

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      產(chǎn)品特點:

      30μV-1200V;1pA-100A寬量程測試能力;

      測量精度高,全量程下可達0.03%精度;

      內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測試程序,直接調(diào)用測試簡便;

      自動實時參數(shù)提取,數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù);

      在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線;

      提供靈活的夾具定制方案,兼容性強;

      免費提供上位機軟件及SCPI指令集;

      典型應(yīng)用:

      納米、柔性等材料特性分析;

      二極管;

      MOSFET、BJT、晶體管、IGBT;

      第三代半導(dǎo)體材料/器件;

      有機OFET器件;

      LED、OLED、光電器件;

      半導(dǎo)體電阻式等傳感器;

      EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管;

      電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測量;

      太陽能電池;

      非易失性存儲設(shè)備;

      失效分析;


      系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格

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      半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)CV+IV特性曲線掃描儀訂貨信息


      硬件指標(biāo)-IV測試

      半導(dǎo)體材料以及器件的參數(shù)表征,往往包括電特性參數(shù)測試。絕大多數(shù)半導(dǎo)體材料以及器件的參數(shù)測試,都包括電流-電壓(I-V)測量。源測量單元(SMU),具有四象限,多量程,支持
      四線測量等功能,可用于輸出與檢測高精度、微弱電信號,是半導(dǎo)體|-V特性測試的重要工具之-。SPA-6100配置有多種不同規(guī)格的SMU,如低壓直流SMU,低壓脈沖SMU,大電流SMU。用戶可根據(jù)測試需求靈活配置不同規(guī)格,以及不同數(shù)量的搭配,實現(xiàn)測試測試效率與開支的平衡。


      靈活可定制化的夾具方案

      針對市面上不同封裝類型的半導(dǎo)體器件產(chǎn)品,普賽斯提供整套夾具解決方案。夾具具有低阻抗、安裝簡單、種類豐富等特點,可
      用于二極管、三極管、場效應(yīng)晶體管、IGBT、SiC  MOS、GaN等單管,模組類產(chǎn)品的測試;也可與探針臺連接,實現(xiàn)晶圓級芯片
      測試。

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      探針臺連接示意圖

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