德國(guó)EPK公司覆層測(cè)厚儀MINITEST 4100
用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等
鋼鐵基體上的非磁性覆層
有色金屬上的絕緣覆層
絕緣基體上的有色金屬覆層。
可選探頭資料: 所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
覆層測(cè)厚儀MINITEST 4100參數(shù):
型 號(hào) | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 | |
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 | |||||
應(yīng)用行數(shù) (根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)) | 1 | 1 | 10 | 99 | |
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù) (對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值) | | 1 | 10 | 99 | |
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) | | 1 | 500 | 500 | |
數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 | |
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | |||||
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar | | √ | √ | √ | |
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ | |
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar | | | √ | √ | |
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ | |
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) | | | | √ | |
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 | | | √ | √ | |
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 | | √ | √ | √ | |
設(shè)置極限值 | | | √ | √ | |
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別大小值 | | | √ | √ | |
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | | | √ | √ | |
連續(xù)測(cè)量模式中顯示小值 | | | √ | √ | |
覆層測(cè)厚儀MINITEST 4100探頭:
探 頭 | 量 程 | 低端 | 誤 差 | 小曲率半徑(凸/凹) | 小測(cè)量 | 小基 | 探頭尺寸 | |
磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/ | | | φ15x |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | | φ15x | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/ | | | φ8x8x | |
F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/ | | | φ8x8x | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | | φ15x | |
F10 | 0 | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/ | | | φ25x | |
F20 | 0 | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/ | | | φ40x | |
F50 | 0 | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/ | | | φ45x | |
兩 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | F | φ15x |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | | F | φ21x | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | F | φ15x | |
電 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/ | | 50μm | φ16x |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | | | 100μm | φ15x | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | 50μm | φ15x | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/ | | 50μm | φ13x13x | |
N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | 50μm | φ15x | |
N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/ | | 50μm | φ13x13x | |
N10 | 0 | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/ | | 50μm | φ60x | |
N20 | 0 | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/ | | 50μm | φ65x | |
N100 | 0 | 100μm | ±(1%± | | | 50μm | φ126x | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | | 無限制 | φ17x |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層