德國EPK公司覆層測厚儀MINITEST 2100
用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等
鋼鐵基體上的非磁性覆層
有色金屬上的絕緣覆層
絕緣基體上的有色金屬覆層。
可選探頭資料: 所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
覆層測厚儀MINITEST 2100參數(shù)：
| 型 號(hào) | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 | |
| MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 | |||||
| 應(yīng)用行數(shù) （根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)） | 1 | 1 | 10 | 99 | |
| 每個(gè)應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù) （對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值） | | 1 | 10 | 99 | |
| 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) | | 1 | 500 | 500 | |
| 數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 | |
| MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | |||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar | | √ | √ | √ | |
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ | |
| 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar | | | √ | √ | |
| 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ | |
| 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) | | | | √ | |
| 分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 | | | √ | √ | |
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間 | | √ | √ | √ | |
| 設(shè)置極限值 | | | √ | √ | |
| 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識(shí)別大小值 | | | √ | √ | |
| 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | | | √ | √ | |
| 連續(xù)測量模式中顯示小值 | | | √ | √ | |
覆層測厚儀MINITEST 2100探頭：
| 探 頭 | 量 程 | 低端 | 誤 差 | 小曲率半徑（凸/凹） | 小測量 | 小基 | 探頭尺寸 | |
| 磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±（1%±0.7μm） | 1/ | | | φ15x |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/ | | | φ15x | |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/ | | | φ8x8x | |
| F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面/ | | | φ8x8x | |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/ | | | φ15x | |
| F10 | 0 | 5μm | ±（1%±10μm） | 5/ | | | φ25x | |
| F20 | 0 | 10μm | ±（1%±10μm） | 10/ | | | φ40x | |
| F50 | 0 | 10μm | ±（3%±50μm） | 50/ | | | φ45x | |
| 兩 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/ | | F | φ15x |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面 | | F | φ21x | |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/ | | F | φ15x | |
| 電 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±（1%±0.5μm） | 1/ | | 50μm | φ16x |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | | | 100μm | φ15x | |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/ | | 50μm | φ15x | |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/ | | 50μm | φ13x13x | |
| N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/ | | 50μm | φ15x | |
| N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面/ | | 50μm | φ13x13x | |
| N10 | 0 | 10μm | ±（1%±25μm） | 25/ | | 50μm | φ60x | |
| N20 | 0 | 10μm | ±（1%±50μm） | 25/ | | 50μm | φ65x | |
| N100 | 0 | 100μm | ±（1%± | | | 50μm | φ126x | |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面 | | 無限制 | φ17x | |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層
智能制造網(wǎng)