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      行業(yè)產(chǎn)品

      • 行業(yè)產(chǎn)品

      江蘇迅迪儀器科技有限公司


      恒平紫外光度計9

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      具體成交價以合同協(xié)議為準

      產(chǎn)品型號

      品       牌

      廠商性質(zhì)其他

      所  在  地

      聯(lián)系方式:胡先生查看聯(lián)系方式

      更新時間:2023-06-06 11:50:44瀏覽次數(shù):144次

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      產(chǎn)品簡介

      恒平紫外光度計,定量測試:單主機下測試樣品透過率T、吸光度A和能量,自動設定波長,自動調(diào)Abs/99%T,可保存200條測試記錄,可外接微型打印機,打印數(shù)據(jù)報告。

      詳細介紹

      恒平紫外光度計

      定量測試:單主機下測試樣品透過率T、吸光度A和能量,自動設定波長,自動調(diào)Abs/99%T,可保存200條測試記錄,可外接微型打印機,打印數(shù)據(jù)報告。
      標準曲線法測試:可進行一階過零、一階線性標準曲線測試。多可建立12個標樣點的標準曲線,濃度結(jié)果直接顯示,可保存50條曲線參數(shù),可保存多達200條測試記錄,可外接微型打印機打印圖譜和數(shù)據(jù)報告。
      參數(shù)法測試:用戶輸入直線工作參數(shù)K和B,濃度結(jié)果直接測試顯示,可外接微型打印機打印圖譜和數(shù)據(jù)報告。
      系統(tǒng)設定:燈源管理,系統(tǒng)時鐘管理,暗電流校正,波長校正,燈切換波長設置,版本信息功能。
      附有UV-Solution2.0工作軟件,具有多種測試、掃描等功能。

      UV-Solution2.0軟件功能介紹

      定量測試:曲線標定:可進行一階過零、一階線性、二階擬合、三階擬合標準曲線測試多可建立20個標樣點的標準曲線,可選擇單波長,雙波長或三波長下測量。
      參數(shù)標定:可選在一階過零、一階線性、二階擬合、三階擬合標準曲線下標定曲線參數(shù),可選擇單波長,雙波長或三波長下測量。
      可打印記錄為標準報表,可導出數(shù)據(jù)為txt文本文件供用戶編輯。
      動力學測試:在特定波長下對樣品的吸光度A或透過率T進行時間掃描,采樣時間間隔有0.5、1、2、5、10、30、60秒可選擇,多保存數(shù)據(jù)測量個數(shù)10000條,長測量時間可達到7天??纱蛴∮涗洖闃藴蕡蟊恚蓪С鰯?shù)據(jù)為txt文本文件供用戶編輯,可導出圖譜為bmp圖片文件。
      波長掃描:在有效波長范圍內(nèi),可按0.1、0.2、0.5、1、2、5nm設定掃描間隔(掃描速度可達300nm/min),對樣品的吸光度A、透過率或者能量進行掃描,并對圖譜進行數(shù)據(jù)處理,如圖譜縮放、平滑、四則運算、坐標調(diào)整、峰/谷自動檢測、1~4階導數(shù)光譜等,多可同時容納八個掃描光譜圖,可保存或?qū)胂到y(tǒng)基線數(shù)據(jù),加快測試速度,可打印記錄為標準報表,可導出數(shù)據(jù)為txt文本文件供用戶編輯,可導出圖譜為bmp圖片文件。
      波長測試:可在多個波長條件下測試樣品透過率T,吸光度A,多可設置15個波長點,可設定參數(shù)因子,直接得到終計算結(jié)果,可打印記錄為標準報表,可導出數(shù)據(jù)為txt文本文件供用戶編輯,可導出圖譜為bmp圖片文件。
      核糖核酸/蛋白質(zhì)測量:快速測量DNA樣品在特定波長下的吸光度,并自動計算出脫氧核糖核酸/蛋白質(zhì)的濃度及DNA Ratio,內(nèi)建兩種標準測試方法,也可擴展應用,任意設定其它波長和因子進行測量和計算,可打印記錄為標準報表,可導出數(shù)據(jù)為txt文本文件供用戶編輯,可導出圖譜為bmp圖片文件。

      恒平紫外光度計

      數(shù)

      單色器

      C-T式單色器,1200線全息光柵

      檢測器

      硅光二極管

      光源

      鹵鎢燈20W/12V,氘燈,光源切換波長可設定

      顯示器

      128×64大屏幕液晶顯示

      光譜帶寬

      2nm

      波長范圍

      190~1100nm(步進間隔0.1nm)

      波長大允許誤差

      ±1.0nm(開機自動校準)

      波長重復性

      ≤0.5nm

      雜散光

      ≤0.15%T(在220、360nm處)

      測定范圍

      T:-1.0 ~ 200.0%T ,A:-0.5 ~ 3.000A,F(xiàn):0 ~ 9999,C:0 ~ 9999

      透射比大允許誤差

      ±0.5%T

      透射比重復性

      0.2%T

      基線平直度

      ±0.004A

      基線漂移

      ±0.002A/h


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