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      行業(yè)產(chǎn)品
      
							
						
      
						
        
							
      • 行業(yè)產(chǎn)品
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      大連華洋分析儀器有限公司
                                
                
                
      

							
      
                        			
      
		
      
	
      
	
	
      
		
      
            
      
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      Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站-掃描電化學(xué)顯微鏡
      
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      參  考  價(jià)面議  
      
					                    
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      
				
      
				
				
      
						
      
							
      產(chǎn)品型號
      
							
      品       牌
      
		                    
      廠商性質(zhì)其他
      
		                    							
      所  在  地大連市
      
						
      
                        
                    
      
					 							        										
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								更新時(shí)間：2023-02-22 12:46:47瀏覽次數(shù)：340次
							
      
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                    產(chǎn)品簡介
                
      
				
      
                      
      
                                                                      
      
					
      Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站-掃描電化學(xué)顯微鏡
      
				
      
				
      
                    詳細(xì)介紹
                
      
			    
      
			        
      
			                                                                                       
                               
       掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)（SECM） 
       
       交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ac-SECM） 
       
       間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ic-SECM） 
       
       微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)(LEIS) 
       
       掃描振動點(diǎn)擊測試系統(tǒng)（SVET） 
       
       電解液微滴掃描系統(tǒng)（SDS） 
       
       交流電解液微滴掃描系統(tǒng)（ac-SDS） 
       
       掃描開爾文探針測試系統(tǒng)（SKP） 
       
       非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)（OSP） 
       
       
       
       
       出色的性能 
       
       快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而特別設(shè)計(jì)。結(jié)合Uniscan 的混合型32-bit DAC技術(shù)，用戶可以選擇合適實(shí)驗(yàn)研究的配置 
       
       *和靈活的工作平臺 
       
       系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù)，使得M470成為靈活的電化學(xué)掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。 
       
       全面的附件 
       
       7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。 
       
       
       
       
       M470新產(chǎn)品特征 
       
       SECM自動處理曲線 
       
       SECM用戶自定義處理曲線步長變化 
       
       高分辨率讀取 
       
       手動或自動調(diào)節(jié)相位 
       
       M470同時(shí)具備如下特點(diǎn)： 
       
       傾斜校正 
       
       X或Y曲線相減（5階多項(xiàng)式） 
       
       2D或3D快速傅里葉變化 
       
       實(shí)驗(yàn)，探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序 
       
       圖形實(shí)驗(yàn)測序引擎（GESE） 
       
       支持多區(qū)域掃描 
       
       所有實(shí)驗(yàn)多個(gè)數(shù)據(jù)視圖 
       
       峰值分析 
       
       
       
       
       M470是由Uniscan儀器開發(fā)的第四代掃描探針系統(tǒng)，具有更高規(guī)格和更多探針技術(shù)。 
       
       M470技術(shù)參數(shù) 
       
       工作站（所有技術(shù)） 
       
       掃描范圍（x,y,z）             大于100mm 
       
       掃描驅(qū)動分辨率                 0.1nm 
       
       閉環(huán)定位                          線性零滯后編碼器，直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移 
       
       軸分辨率（x,y,z）             20nm 
       
       掃描速度                    12.5mm/s 
       
       測量分辨率                       32-bit@高達(dá)40MHz 
       
       壓電（ic-和ac-掃描探針技術(shù)） 
       
       振動范圍                          20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量 
       
       最小振動分辨率                 0.12nm(16-bit DAC,4μm) 
       
       壓電晶體伸展                    100μm 
       
       定位分辨率                       0.09nm(20-bit DAC ,100μm) 
       
       機(jī)電 
       
       掃描前端                          500×420×675mm(H×W×D) 
       
       掃描控制單元                    275×450×400mm(H×W×D) 
       
       功率 250W  
                              
                               
                           
			        
      
			    
      
                			    
                                                				
			
      
			
      
		
      
	
      
	
    
      
		
      
			
      
				
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