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上海四科儀器設(shè)備有限公司
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號UV765CRT
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時(shí)間:2023-01-09 11:36:13瀏覽次數(shù):183次
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采用微處理機(jī)控制技術(shù),在紫外光譜區(qū)域內(nèi)對物質(zhì)作定性、定量分析,是常規(guī)實(shí)驗(yàn)室的多用途分析儀器,應(yīng)用于臨床檢驗(yàn)、生物化學(xué)、石油化工、環(huán)境保護(hù)、質(zhì)量控制及大專院校教學(xué)實(shí)驗(yàn)室等部門。。
主要特點(diǎn):
● 比例雙光束,保證的穩(wěn)定性。
● 超低的雜散光,優(yōu)異的波長精確度。
● 高清晰度大屏幕LCD顯示,流暢的人機(jī)對話操作。
● 長壽命石英涂膜光學(xué)部件。
● 常規(guī)測量功能:光度測量、定量測定、光譜掃描、時(shí)間掃描。
● 顯示和儲(chǔ)存各種數(shù)據(jù)和圖譜,支持專用打印機(jī)。
● 自動(dòng)校正功能,確保每次測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。
● 自動(dòng)尋找燈源位置,獨(dú)立燈室,燈源更換簡單方便。
● 大樣品室,自動(dòng)8聯(lián)樣品架。
● 自診斷功能,隨時(shí)檢查儀器狀態(tài)和性能。
● 波長范圍:190nm~1100nm
● 波長允許誤差:±0.5nm
● 波長重復(fù)性:≤0.2nm
● 光譜帶寬:2nm
● 雜散光:≤0.05%(τ)(在220nm處,以NaI測定,在360nm處,以NaNO2測定)
● 透射比測量范圍:0.0%(T)~200.0% (T)
● 吸光度測量范圍:-0.301(A)~3.00(A)
● 透射比允許誤差:±0.3%(τ)
● 漂移:≤0.001A/h
● 透射比重復(fù)性:0.15%(T)
● 基線平直度:±0.002A
● 噪聲:99%噪聲≤0.15%(T) 0%噪聲≤0.10%(T)
● 掃描速度;快、中、慢
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