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宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備（東莞市）有限公司
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更新時(shí)間：2023-05-16 07:39:56瀏覽次數(shù)：161次
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PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗(yàn)箱/機(jī)加速老化試驗(yàn)雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí)，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源。采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度
PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗(yàn)箱/機(jī)
高壓加速老化試驗(yàn)箱廠家外箱均采用304不銹鋼板，圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì)，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。精密設(shè)計(jì)，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。自動(dòng)門禁，圓型門自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，門把設(shè)計(jì)，箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)。
PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗(yàn)箱/機(jī)
PCT加速老化試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：
1.設(shè)備設(shè)計(jì)美觀大方，做工精細(xì)。
2.采用大容量水箱,試驗(yàn)時(shí)間長,不中斷。
3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高，控制穩(wěn)定特點(diǎn)（依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，和通訊功能）。
4. PCT加速老化試驗(yàn)箱的水路配電盤分離，確保設(shè)備穩(wěn)定可靠安全。
5.采用高效真空泵，使箱內(nèi)達(dá)到**純凈飽和蒸汽狀態(tài)。
6.多項(xiàng)安全保護(hù)措施,故障報(bào)警顯示及故障原因和排除方法及功能顯示。
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