光學(xué)引伸計(jì)

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輔光精密儀器（上海）有限公司

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光學(xué)引伸計(jì)EpsilonONE是高精度光學(xué)伸長(zhǎng)計(jì)儀器,具有業(yè)界的分辨率、精度和速度測(cè)量軸向應(yīng)變

詳細(xì)介紹

光學(xué)引伸計(jì)Epsilon ONE是高精度光學(xué)伸長(zhǎng)計(jì)儀器,具有業(yè)界的分辨率、精度和速度測(cè)量軸向應(yīng)變。光學(xué)引伸計(jì)適用于測(cè)試高模量材料，如金屬和復(fù)合材料、高延伸率材料、薄或精密試樣、循環(huán)疲勞、應(yīng)變控制測(cè)試、撓度計(jì)應(yīng)用和測(cè)量裂紋張開(kāi)位移。實(shí)時(shí)測(cè)量和輸出應(yīng)變或延伸。
光學(xué)引伸計(jì)創(chuàng)新的即時(shí)重置、常開(kāi)和激光對(duì)準(zhǔn)功能限度地提高了性能并增加了測(cè)試吞吐量。
光學(xué)引伸計(jì)Tinius Olsen Epsilon ONE光學(xué)非接觸伸長(zhǎng)計(jì)執(zhí)行高精度、高分辨率、非接觸軸向應(yīng)變和位移測(cè)量。這些光學(xué)引伸計(jì)適用于測(cè)試高模量材料，如金屬和復(fù)合材料、高延伸率材料、薄或精密試樣、循環(huán)疲勞、應(yīng)變控制測(cè)試、撓度計(jì)應(yīng)用和測(cè)量裂紋張開(kāi)位移。實(shí)時(shí)測(cè)量和輸出應(yīng)變或延伸。
光學(xué)引伸計(jì)Epsilon ONE的高分辨率和ISO 0.5/ASTM B-1精度等級(jí)使其適用于廣泛應(yīng)變值的非接觸測(cè)量，從測(cè)量金屬、復(fù)合材料、陶瓷和CMC的模量所需的非常小的應(yīng)變到通過(guò)彈性體和其間的一切。
光學(xué)引伸計(jì)Epsilon的綜合光程優(yōu)化實(shí)現(xiàn)了的精度和分辨率，這是多種光學(xué)技術(shù)和信號(hào)處理算法的統(tǒng)一。超高攝像機(jī)分辨率、高達(dá)3000Hz的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)速率、光學(xué)誤差源最小化以及信號(hào)處理技術(shù)以的噪聲提供了高應(yīng)變分辨率和精度。市場(chǎng)上沒(méi)有其他系統(tǒng)將所有這些技術(shù)結(jié)合在一起。光學(xué)引伸計(jì)激光輔助對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)提供即時(shí)對(duì)準(zhǔn)和距離抽查。光學(xué)引伸計(jì)Epsilon ONE將在測(cè)試前在樣本上投射預(yù)對(duì)準(zhǔn)的激光線，顯示任何錯(cuò)位。在測(cè)試過(guò)程中，高精度遠(yuǎn)心透鏡消除了因低應(yīng)變材料和組件的平面外運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的誤差。光學(xué)引伸計(jì)Epsilon ONE出廠校準(zhǔn)–沒(méi)有校準(zhǔn)網(wǎng)格或標(biāo)距桿，節(jié)省了大量時(shí)間。光學(xué)引伸計(jì)可以在幾分鐘內(nèi)建立新的樣本類型，并且只需要很少的培訓(xùn)或技能即可使用。桌面用戶界面軟件和可選觸摸界面提供連續(xù)。
光學(xué)引伸計(jì)特點(diǎn)
非接觸式視頻伸長(zhǎng)計(jì)解決方案
分辨率、精度和速度
始終開(kāi)啟，始終實(shí)時(shí)
遠(yuǎn)心設(shè)計(jì)
激光輔助對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)
實(shí)時(shí)數(shù)字輸出
更好的應(yīng)變控制
適用于許多ISO、ASTM標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試–ISO 6892-1、527-2、527-4、527-5；ASTM E8、E9、D3039、D638、A370、D3552、E646

關(guān)鍵詞：引伸計(jì) 攝像機(jī)

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