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FISCHER X-RAY系列X射線熒光測厚儀

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更新時間：2022-10-12 15:56:18瀏覽次數(shù)：208次

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產(chǎn)品簡介

FISCHER X-RAY系列X射線熒光測厚儀專為測量PCB板和晶圓而設(shè)計的儀器菲希爾（FISCHER）專為測量PCB和晶圓設(shè)計的X射線熒光測厚及材料分析儀FISCHERSCOPE XUL穩(wěn)定和低成本的X射線熒光測厚儀，用于非破壞性的金屬分析和涂層厚度測量FISCHERSCOPE XULM X射線測厚儀，用于對小部件進(jìn)行非破壞性的材料分析和涂鍍層厚度測量，如銀層測厚、金層測厚FISCHERSCOP......

詳細(xì)介紹

FISCHER X-RAY系列X射線熒光測厚儀

專為測量PCB板和晶圓而設(shè)計的儀器

菲希爾（FISCHER）專為測量PCB和晶圓設(shè)計的X射線熒光測厚及材料分析儀

FISCHERSCOPE XUL穩(wěn)定和低成本的X射線熒光測厚儀，用于非破壞性的金屬分析和涂層厚度測量

FISCHERSCOPE XULM X射線測厚儀，用于對小部件進(jìn)行非破壞性的材料分析和涂鍍層厚度測量，如銀層測厚、金層測厚

FISCHERSCOPE XAN220/222 X射線熒光測量儀，用于快速、無損地分析黃金和銀合金

FISCHERSCOPE XAN250/252高性能X射線熒光測量儀，配有**進(jìn)的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

FISCHERSCOPE XDL X射線測厚儀帶有可編程的 X/Y臺和Z軸，用于自動測量涂鍍層厚度和材料分析，如銅厚測量及鉻層測厚等

FISCHERSCOPE XDLM X射線熒光測厚儀，用于對電路板、電子元件和批量零件的涂層厚度進(jìn)行手動或自動測量，也適用于小型結(jié)構(gòu)

FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測量儀帶有可編程的 X/Y臺和Z軸，用于自動測量涂鍍層厚度和材料分析

FISCHERSCOPE XDV-SDD滿足高要求的 X 射線熒光測試儀，帶有可編程的 X/Y 工作臺和 Z 軸，用于自動測量極薄的涂層和進(jìn)行印痕分析

FISCHERSCOPE XDV-µ X射線熒光測厚儀，配有多毛細(xì)孔 X 射線光學(xué)系統(tǒng)，可自動測量和分析微小部件及結(jié)構(gòu)上鎳鈀金鍍層厚度和成分。

FISCHERSCOPE XUV773 X射線熒光測量儀帶有真空室，通用型**設(shè)備測量具有全面的測量能力

FISCHERSCOPE X-RAY4000 X射線熒光測量系統(tǒng)，用于在光滑的和壓印的（包括帶有鑄模接觸面）帶鋼生產(chǎn)工藝中進(jìn)行連續(xù)的在線測量和分析

FISCHERSCOPE X-RAY5000 X射線熒光測量系統(tǒng)，用于在生產(chǎn)工藝中對較薄的鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe 進(jìn)行連續(xù)的在線測量和分析

校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 X射線測厚儀專用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片

WinFTM 軟件適用于所有 FISCHERSCOPE X-RAY 型 X射線熒光測量系統(tǒng)的軟件

以上都是FISCHER X-RAY系列X射線熒光測厚儀推薦。XRAY(即X射線)熒光分析是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。X射線測厚儀、X射線熒光法、XRAY測厚測量系統(tǒng)。

　　X射線測厚儀原理

　　XRAY測厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測物時的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉(zhuǎn)換為電信號，經(jīng)過前置放大器放大，再由專用測厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號。

　　X射線測厚儀適用范圍

　　XRAY測厚儀適用于生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過程中對板材厚度進(jìn)行自動控制。

關(guān)鍵詞：測厚儀分析儀探測器操作系統(tǒng)

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