牛津儀器電子背散射衍射（EBSD）探測器Symmetry S2

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號

品牌

廠商性質其他

所在地

在線詢價收藏產品查看聯系電話

聯系方式：查看聯系方式

更新時間：2023-01-27 18:31:27瀏覽次數：619次

聯系我時，請告知來自智能制造網

產品分類 品牌分類

暫無信息

長沙艾克賽普儀器設備有限公司

經營模式：其他

商鋪產品：260條

所在地區(qū)：

詢價 給他留言

產品簡介

詳細介紹

牛津儀器電子背散射衍射（EBSD）探測器Symmetry S2采用專門定制的CMOS傳感器和光纖板光學系統(tǒng)，集高速、高靈敏度和高衍射花樣質量于一體的強大組合。Symmetry S2與AZtec軟件相結合，為所有材料和所有測量提供*的性能。Symmetry S2的分析速度超過4500 pps，可在幾秒鐘內實現織構和晶粒度表征，而這是在不需要高束流或犧牲花樣分辨率的條件下實現的。這意味著，即使對難做樣品，如多相輕合金或變形鋼，也可以實現高速及高質量的分析。

此外，Symmetry S2可以采集無畸變、百萬像素分辨率的EBSD花樣，用于精細的應變和相分析。軟件控制探頭傾轉（自動動態(tài)校準）和接近報警等創(chuàng)新功能，使Symmetry S2成為一款適合所有應用的探測器。

當無需在速度和精度間做選擇時，型Symmetry S2可以輕松滿足所有應用需要。

牛津儀器電子背散射衍射（EBSD）探測器Symmetry S2特點

Symmetry S2探測器性能出色，使用方便，是所有EBSD應用的理想探測器：

保證標定速度 > 4500點/秒（pps）
光纖板光學系統(tǒng)帶來優(yōu)異的靈敏度
高靈敏度 > 800 pps/nA
速度時花樣分辨率為156 x 88 像素
百萬像素全分辨率（1244 x 1024）花樣——理想的高角度分辨率(HR)-EBSD應變分析
亞像素畸變，保證角度精度優(yōu)于0.05°
軟件控制傾轉接口，且自動校準——為所有大小的樣品和幾何設置提供理想的定位和標定
接近報警——提前探測可能發(fā)生的碰撞，并自動移動探測器至安全位置
五個集成的前散射探測器（FSD，選配）, 提供全彩色通道襯度圖像和原子序數襯度圖像
波紋管SEM接口，保持顯微鏡真空的完整性
簡單直觀的探測器設置，確保每次都能獲得優(yōu)異的結果

牛津儀器電子背散射衍射（EBSD）探測器Symmetry S2應用

Symmetry S2集極速、靈敏度和多功能于一體，是一款能夠覆蓋所有應用領域的型EBSD探測器。這包括：

標準金屬和合金樣品的常規(guī)分析
深入檢查應變和變形
復雜或束流敏感樣品的有效表征
優(yōu)化大樣品測量
納米晶材料的透射菊池衍射（TKD）分析

材料性能的快速質量控制

Symmetry S2的分析速度 >4500 pps，可在若干秒鐘內測量樣品關鍵性能
依據ASTM E2627標準分析雙相不銹鋼的晶粒度，晶粒數量 >2000個，時間<80秒。
同樣，織構和相分數的快速表征使得Symmetry S2非常適合于質量控制和高產量應用
僅使用中等束流（4 nA）即可對各種材料完成高速分析

敏感樣品的高速分析

Symmetry S2探測器內的光纖板光學系統(tǒng)提供了優(yōu)異的靈敏度，不僅確保來自束流敏感材料的出色數據，而且對所有樣品類型都有性能優(yōu)勢
對石英（SiO2）礦物樣品，僅使用中等束流以1900 pps的速度在12分鐘內完成準確相分析
Symmetry S2的靈敏度確保您可以在所有應用中利用探測器的高速度，短時間內完成大量樣品的檢測

應變樣品的詳細分析

為了有效地表征應變，具有百萬像素分辨率和最小畸變的探測器至關重要
Symmetry S2是一款能滿足這些標準的探測器——全1244 x 1024像素衍射花樣是高角度分辨率（HR）EBSD的理想選擇，每個探測器都能保證亞像素畸變
本例顯示了高質量的EBSD花樣與AZtec的高精度標定模式如何描述應變鎳樣品中的位錯胞

分析任意大小的樣品

使用傳統(tǒng)EBSD探測器很難分析大樣品，因為它們需要在SEM的長工作距離（WD）下進行分析，這會損害標準EBSD幾何位置
Symmetry S2有軟件控制傾斜，可為每種樣品類型定位于其理想的幾何位置，從TEM薄片到厘米尺度樣品（如原位測試樣品或地質薄片）
該面分布圖顯示了來自大型力學測試的Ti64合金樣品的EBSD數據，晶粒取向數據用于計算加載方向的楊氏模量

電子背散射衍射（EBSD）是一種基于掃描電子顯微鏡（SEM)），提供樣品顯微結構晶體學信息的技術。在EBSD中，電子束與傾斜的晶態(tài)樣品相互作用，形成衍射花樣。衍射花樣可以通過熒光屏探測到，它具有所產生處樣品的晶體結構和取向特征。因此，衍射花樣可用來確定晶體結構及取向、區(qū)分晶體上不同的相、表征晶界、和提供有關局部結晶完整性的信息。

EBSD已成為SEM中的一個出色的附件，常用來提供晶體學信息。EBSD廣泛地應用于許多不同的領域，以幫助材料表征，如下表所示。

AZtec EBSD系統(tǒng)結合了EBSD（ Symmetry ）的速度和靈敏度以及 AZtecHKL軟件出色的分析性能，為電子背散射衍射（EBSD）和透射菊池衍射（TKD）分析提供了一種功能強大、用途廣泛的工具。

行業(yè)	材料	典型的EBSD測量
金屬研究和加工	金屬，合金	晶粒尺寸
航天	金屬間化合物	晶界表征
汽車	夾雜物/沉淀物/第二相	體織構
核能	陶瓷	局部織構
微電子	薄膜	CSL晶界表征
地球科學	太陽能電池	再結晶或形變率
科研領域	地質	亞結構分析
	半導體	相鑒定
	超導體	相分數和相分布
	冰	相變
	金屬和陶瓷復合材料	斷口分析
	骨頭，牙齒	晶粒和相間的取向與取向差關系