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上海美盛自動化設備有限公司
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產品型號SXR-225 X射線測厚儀
品 牌
廠商性質其他
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更新時間:2022-12-11 10:26:55瀏覽次數(shù):466次
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SXR-225 X射線測厚儀美國EMC公司設計和生產X射線測厚儀和軋鋼控制系統(tǒng)已有超過40年的歷史。我們的測厚儀使用X-射線脈沖技術,因此能以更低的輻射提供更**的測量結果。SXR-225 X射線測厚儀采用*新的固態(tài)電路設計,打破了以往線路頻率響應的限制。SXR-225 X射線測厚儀運行頻率為225Hz,其快速的響應時間使其能更好地滿足當今業(yè)界“低成本、高質量、高速度"生產的要求。
SXR-225 X射線測厚儀 SXR-225 X射線測厚儀 美國EMC公司設計和生產X射線測厚儀和軋鋼控制系統(tǒng)已有超過40年的歷史。我們的測厚儀使用X-射線脈沖技術,因此能以更低的輻射提供更**的測量結果。SXR-225 X射線測厚儀采用*新的固態(tài)電路設計,打破了以往線路頻率響應的限制。SXR-225 X射線測厚儀運行頻率為225Hz,其快速的響應時間使其能更好地滿足當今業(yè)界“低成本、高質量、高速度”生產的要求。 它是如何工作的: SXR-225 X射線測厚儀包括三個主要部件: 1) 一個X射線發(fā)生源,用于產生有限度可控制的X-射線 發(fā)生源的KV等級由被測產品的厚度和材質而定。 在運行時,產生的X-射線脈沖穿過被測量的材料,到達探測器的射線量由于產品的吸收而衰減,射線的衰減量和被測產品的厚度成函數(shù)關系。檢測到的信號被送往顯示控制器用于合金補償和(或)厚度顯示。 返回頂部 返回頂部 產品優(yōu)點 1) X-射線信噪比可取、穩(wěn)定性好; 2) 當測厚儀停止工作時不產生輻射。而同位素測厚儀則可能在多達10多年的衰期內均有輻射; 3) 相比于同位素測厚儀,對于X-射線測厚儀的應用政府法規(guī)更寬松; 4) 非接觸式測量更適合于非規(guī)則表面和惡劣環(huán)境的應用; 5) SXR-225設計堅固、穩(wěn)定可靠、性價比高。 返回頂部 技術規(guī)格 0.0002" - 0.010" (0.005-0.250 mm) 0.005" - 0.250" (0.125 - 6.3 mm) 0.100" - 2.20" (2.5 – 55 mm) 0.250" - 3.50" (6 - 89 mm) 0.0005" - 0.020" (0.02 – 0.5 mm) 0.010" - 0.200" (0.25 – 5 mm) 0.020" - 0.400" (0.5 – 10 mm) 0.0002" - 0.014" (0.005 – 0.35mm) 0.006" - 0.120" (0.15 – 3.0 mm) 0.010" - 0.200" (0.25 – 5.0 mm) ±0.5% 名義厚度的±0.25%(±0.25% of nominal thickness) 基本型測厚儀,無阻攔檔板 = 3 s 獲得名義厚度的0.5% (Basic gage, no shutter = 3 sec to attain 0.5% of nominal thickness) 軋鋼型,帶阻攔檔板 = 300 ms 達到名義厚度的0.5% (Mill version, with shutter = 300 ms to reach 0.5% of nominal thickness) 1" - 3" (25 – 75 mm) 2" - 12" (50 – 300 mm) 4" - 24" (100 – 600 mm) 6" - 30" (150 – 75 mm) 標準讀取(sandard readout) 6”(150 mm)工業(yè)表,校準成名義厚度的±10% (6 inch industrial meter calibrated ± 10% of nominal thickness) * 噪音是在100Hz記錄器,30 ms時間常數(shù)及*小空氣間隙時測量的(Noise is measured on 100 HZ recorder at 30 ms time constant at minimum air gap.)
美國EMC公司設計和生產X射線測厚儀和軋鋼控制系統(tǒng)已有超過40年的歷史。我們的測厚儀使用X-射線脈沖技術,因此能以更低的輻射提供更**的測量結果。SXR-225 X射線測厚儀采用*新的固態(tài)電路設計,打破了以往線路頻率響應的限制。SXR-225 X射線測厚儀運行頻率為225Hz,其快速的響應時間使其能更好地滿足當今業(yè)界“低成本、高質量、高速度”生產的要求。
2) 一個固態(tài)設計的探測器,用于測量未被吸收的X-射線
3) 一個*模塊化設計的控制器,用于控制和讀取發(fā)生源和探測器
應用范圍
測量材料 鋼(STEEL)
鋁(ALUMINUM)
銅(COPPER)
合金(ALLOYS)塑料(PLASTICS)
橡膠(RUBBER)
玻璃(GLASS)
刨花板(PARTICLE BOARD)
選擇美國EMC公司脈沖型X-射線測厚儀*主要的原因是:
10 KV
箔片(foil)30 KV
薄(light)90 KV
中等(medium)120 KV
厚(heavy) 線電壓(Line voltage) 115 VAC±10%,50/60Hz,單相(Sola regulator for any line) 電源需求(Power
requirements)240 VA 500 VA 厚度范圍(Thickness
ranges) 鋁(Aluminum) 鋼(Steel) N/A 銅(Brass) N/A *噪音(Noise)
@ 0.012 mm(±0.5% at 0.0005") 名義厚度的±0.3%(±0.3% of nominal thickness) ***小靈敏度(Minimum
sensitivity)±0.2% ±0.1% ±0.15% ***穩(wěn)定性(Stability) 每8小時小于±0.1%,溫度范圍為15-43℃(Less than ±1% per 8 hours 60-110°F) 預熱(Warmup) 二個小時達到名義厚度的0.5%(Two hours to reach 0.5% of nominal thickness) 預熱后的反應時間(Reaction time
after warmup) 時間常數(shù)(Time constant) 30 ms, 噪音增加時可選 15 ms(30 ms as specified, 15 ms optional with noise increase) 線電壓靈敏度(Line voltage sensitivity) 名義厚度時少于0.5%,總的達到100-125V(Less than 0.5% of nominal thickness total 100-125 V) 空氣間隙(Air Gap) 材料移動(Material Whip) 空氣間隙的20%(20% of air gap)
** *小靈敏度是基于大約1/5的總噪音(總P/P噪音的1/5,百分比)(Minimum sensitivity is based on approximately 1/5 of the total noise envelope...
(1/5 of total P/P noise in percent))
*** 發(fā)生源和探測器在冷卻劑達到±5% ℉(±2.8% ℃)時穩(wěn)定(Source tank and detector stabilized with coolant to ±5% °F)
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