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北京眾星聯(lián)恒科技有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)LAMBDA 750K
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更新時(shí)間:2022-12-15 13:16:20瀏覽次數(shù):175次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 智能制造網(wǎng)光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器 LAMBDA 750K
公司介紹: X-Spectrum公司位于德國(guó)漢堡,由德國(guó)DESY(Deutsches Elektronen-Synchrotron)同步輻射中心實(shí)驗(yàn)室獨(dú)立而成,主要致力于標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器的生產(chǎn)。該公司生產(chǎn)的探測(cè)器具有超高的分辨率和的優(yōu)異性能。探測(cè)器包括Lambda,Amber及Sparta等系列,可適用于同步輻射實(shí)驗(yàn)室,也可以應(yīng)用于真空系統(tǒng)。探測(cè)器的感光材料也有多種選擇,不僅包括適用于低能x射線的硅材料,也包括適用于高能x射線的碲化鎘以及砷化鎵等感光材料。另外,該公司不僅可以提供標(biāo)準(zhǔn)化的探測(cè)器,也可以根據(jù)客戶要求,進(jìn)行個(gè)性化探測(cè)器的設(shè)計(jì)。 產(chǎn)品介紹: LAMBDA系列的探測(cè)器, 由55微米的小像素構(gòu)成,通過采用無噪聲光子計(jì)數(shù)技術(shù),采集的圖像可以達(dá)到的效果,從而獲得高分辨率的圖像。另外探測(cè)器有多種控制模式,可以采用自身的控制系統(tǒng),也可以由外觸發(fā)器來控制探測(cè)器,從而實(shí)現(xiàn)與其它裝置的同步化。 產(chǎn)品特點(diǎn): 零噪聲(光子計(jì)數(shù)) 55µm 像素尺寸 高達(dá)23000Hz 無死時(shí)間 雙閾值 性能參數(shù): LAMBDA 750K作為標(biāo)準(zhǔn)版本的LAMBDA探測(cè)器提供了人性化的設(shè)計(jì)以及*的性能。 LAMBDA 750K 性能參數(shù) 感光材料 Si GaAs CdTe 材料厚度 300µm 500µm 500µm 1000µm 像素尺寸 55µm * 55µm 探測(cè)器布局 1 module 像素數(shù)量 512x1536 動(dòng)態(tài)范圍 1 bit 6bit 12bit 24bit 幀率 23000 4000 2000 up tp 1000 讀出時(shí)間 No readout time in 12bit mode,1ms in 24-bit mode 點(diǎn)擴(kuò)散 1 pixel FWHM 外部觸發(fā) 3.3V TTL 軟件接口 Tango server or open-source hardware library available 冷卻方式 Air cooling / Water Cooling 外觀尺寸 405X100X120mm3 重量 5kg 計(jì)數(shù)率 2.5x10E8 counts/mm2/s 每一系列LAMBDA探測(cè)器都提供不同X射線能量探測(cè)范圍的感光材料。對(duì)于硬X射線的探測(cè),GaAs和CdTe感光材料將代替標(biāo)準(zhǔn)的Si感光材料。這將為實(shí)驗(yàn)在高能探測(cè)時(shí)獲得更好的量子化效率(對(duì)于GaAs材料,在40keV可達(dá)到75%量子化效率;對(duì)于CdTe材料,在80keV可達(dá)到75%量子化效率 ),同時(shí)保持單光子計(jì)數(shù)性能并提供高達(dá)2000Hz的高幀率。 主要應(yīng)用: 小角散射 高壓結(jié)晶學(xué) 粉末衍射 微區(qū)衍射 相稱成像 CT及微米CT 多能譜成像 應(yīng)用介紹: 在這個(gè)例子中,LAMBDA探測(cè)器被組合到一個(gè)的流變儀的設(shè)置中,通過測(cè)量其小角信息得到測(cè)量樣品在流變過程中的粘滯性能。 Logarithm of the small-angle scattering signal from colloidal silica spheres, measured with LAMDBA at PETRA-III P10. 將沙丁魚罐頭用于X射線檢測(cè),基于LAMBDA探測(cè)器的高靈敏度和優(yōu)異的圖像質(zhì)量,我們可以清晰的看到罐頭中的沙丁魚的骨頭、組織已經(jīng)罐頭上面的劃痕。 X-ray image of fish in the can. 在兩個(gè)視頻中,我們通過LAMBDA探測(cè)器拍攝了銦箔薄片自由落體的過程
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