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更新時(shí)間:2022-10-16 11:17:33瀏覽次數(shù):152次
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SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀
SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀 特點(diǎn):
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
主要技術(shù)參數(shù):
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性: ±1℃ (在<200℃ 時(shí))
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí))
溫度顯示zui小值: 1℃
熔點(diǎn)觀察方式 單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40×
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