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深圳華普通用科技有限公司
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日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400-華普通用
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簡要描述: Rigaku ZSX Primus III +以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素。
Rigaku ZSX Primus III +以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素。
ZSX Primus III +具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù),再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長了使用時(shí)間。
樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應(yīng)用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析,旨在限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,如熔融珠和壓制顆粒
EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,它可以提供*準(zhǔn)確,*快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應(yīng),包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
元素從O到U的分析
管道上方的光學(xué)器件使污染問題*小化
占地面積小,使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限
高精度樣品定位
特殊光學(xué)元件可減少曲面樣品表面造成的誤差
統(tǒng)計(jì)過程控制軟件工具(SPC)
吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率
注:該儀器未取得中華人民共和國注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途
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