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      行業(yè)產(chǎn)品
      
							
						
      
						
        
							
      • 行業(yè)產(chǎn)品
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      深圳華普通用科技有限公司
                                
                
                
      

							
      
                        			
      
		
      
	
      
	
	
      
		
      
            
      
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      日本理學(xué)連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400-華普通用
      
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      參  考  價面議  
      
					                    
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      
				
      
				
				
      
						
      
							
      產(chǎn)品型號
      
							
      品       牌
      
		                    
      廠商性質(zhì)其他
      
		                    							
      所  在  地深圳市
      
						
      
                        
                    
      
					 							        										
      聯(lián)系方式：陳經(jīng)理查看聯(lián)系方式
      
									                                                 
      
						
      
							
      
								更新時間：2024-05-30 11:31:17瀏覽次數(shù)：97次
							
      
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      經(jīng)營模式：其他
      
						
      商鋪產(chǎn)品：364條
      
						
      所在地區(qū)：
      
						
      聯(lián)系人：陳經(jīng)理
      												
					
      
				
      
			
      			
      
                                
      
                    產(chǎn)品簡介
                
      
				
      
                      
      
                                                                      
      
					
      簡要描述： Rigaku ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀為處理非常大或重的樣品而設(shè)計
      
				
      
				
      
                    詳細(xì)介紹
                
      
			    
      
			        
      
			                  
      產(chǎn)品描述
      連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀

      Rigaku 的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀為處理非常大或重的樣品而設(shè)計。該系統(tǒng)可接受直徑大為 400 毫米、厚度為 50 毫米和質(zhì)量為 30 千克的樣品，非常適合分析濺射靶材、磁盤，或用于多層薄膜計量或大型樣品的元素分析。
      優(yōu)點(diǎn)
      帶有定制樣品適配器系統(tǒng)的 XRF,適應(yīng)特定樣品分析需求的多功能性，可使用可選適配器插件適應(yīng)各種樣品尺寸和形狀。憑借可變測量點(diǎn)（直徑 30 毫米至 0.5 毫米，具有 5 步自動選擇）和具有多點(diǎn)測量的映射功能以檢查樣品均勻性。
      具有可用相機(jī)和特殊照明的 XRF,可選的實(shí)時攝像頭允許在軟件中查看分析區(qū)域。
      仍保留了傳統(tǒng)儀器的所有分析能力。
       
      安全性
      采用上照射設(shè)計,樣品室可簡單移出，再不用擔(dān)心污染光路，清理麻煩和增加清理時間等問題。


      應(yīng)用域
      固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析:
      濺射靶材組成.
      隔離膜：SiO2、BPSG、PSG、AsSG、Si₃N₄、SiOF、SiON等。
      高 k 和鐵電介質(zhì)薄膜：PZT、BST、SBT、Ta2O5、HfSiOx
      金屬薄膜：Al-Cu-Si、W、TiW、Co、TiN、TaN、Ta-Al、Ir、Pt、Ru、Au、Ni等。
      電膜：摻雜多晶硅（摻雜劑：B、N、O、P、As）、非晶硅、WSix、Pt等。
      其他摻雜薄膜（As、P）、困惰性氣體（Ne、Ar、Kr等）、C（DLC）
      鐵電薄膜、FRAM、MRAM、GMR、TMR；PCM、GST、GeTe
      焊料凸點(diǎn)成分：SnAg、SnAgCuNi
      MEMS：ZnO、AlN、PZT的厚度和成分
      SAW器件工藝：AlN、ZnO、ZnS、SiO 2（壓電薄膜）的厚度和成分；Al、AlCu、AlSc、AlTi（電膜）
       
      ■ 技術(shù)參數(shù)
      大樣本分析：大 400 毫米（直徑），大 50 毫米（厚度），高達(dá) 30 千克（質(zhì)量）
      樣品適配器系統(tǒng)，適用于各種樣本量
      測量點(diǎn)：30 毫米至 0.5 毫米直徑，5步自動選擇
      映射能力，允許多點(diǎn)測量
      樣品視圖相機(jī)（可選）
      分析范圍：Be - U
      元素范圍：ppm 至 %
      厚度范圍：sub Å 至 mm
      衍射干擾抑制（可選）：單晶襯底的準(zhǔn)確結(jié)果
      符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：SEMI、CE標(biāo)志
      占地面積小，以型號的 50% 占地面積
       
			        
      
			    
      
                			    
      關(guān)鍵詞：熒光光譜儀  光譜儀
      
                                                				
			
      
			
      
		
      
	
      
	
    
      
		
      
			
      
				
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