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半導(dǎo)體參數(shù)分析儀@2023動態(tài)已更新《新品/推薦》

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更新時間：2024-05-30 10:08:18瀏覽次數(shù)：119次

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產(chǎn)品簡介

簡要描述：使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能先電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

詳細(xì)介紹

本公司2月21日11點(diǎn)16分報道：Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀@2023動態(tài)已更新《新品/推薦》
/c74886/products/d.html
使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能先電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

參數(shù)查看，快速清晰。

推進(jìn)大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。4200A-SCS 參數(shù)分析儀從設(shè)置到運(yùn)行檢定測試的時間減少高達(dá) 50％，從而實(shí)現(xiàn)的測量和分析能力。此外，嵌入式測量業(yè)知識提供的測試指導(dǎo)，并讓您對終結(jié)果充滿信息。

特點(diǎn)

用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的高測量硬件
立即使用 Clarius 軟件中所含的數(shù)百種用戶可修改應(yīng)用程序測試開始測試
自動實(shí)時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)

準(zhǔn)確的 C-V 表征

使用吉時利新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數(shù)飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業(yè)先的 CVU 架構(gòu)中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進(jìn)行低噪聲電容測量。

特點(diǎn)

同類產(chǎn)品中款能夠驅(qū)動1 V AC 電源電壓的 CV 表
1 kHz 頻率，分辨率從1 kHz 到 10 MHz
測量電容、電導(dǎo)和導(dǎo)納
使用 4200A-CVIV 多路開關(guān)多可測量四個通道

使用 4215-CVU 進(jìn)行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量

測量、切換、重復(fù)。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時輕松排除故障。

特點(diǎn)

無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設(shè)備終端
用戶可配置低電流功能
個性化輸出通道名稱
查看實(shí)時測試狀態(tài)

穩(wěn)定的低電流測量，適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預(yù)放大器模塊，Keithley 可確保您獲得準(zhǔn)確的低電流測量，而停機(jī)時間很少甚至沒有。

特點(diǎn)

不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
進(jìn)行飛安測量
多達(dá) 9 個 SMU 通道
針對長電纜或大卡盤進(jìn)行了優(yōu)化

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點(diǎn)