TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀

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產品型號3330

品牌

廠商性質其他

所在地上海市

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更新時間：2022-08-08 13:02:38瀏覽次數(shù)：468次

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產品簡介

產品介紹美國TSI3330光學顆粒物粒徑譜儀產品特點：·0.5微米時粒徑分辨率小于5%·粒徑通道用戶可調·檢測粒徑范圍：0.3-10微米

詳細介紹

產品介紹

美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 產品特點：

· 0.5微米時粒徑分辨率小于5%

· 粒徑通道用戶可調

· 檢測粒徑范圍：0.3-10微米，最多16通道

· 顆粒物粒徑感應范圍：0.5至25mm

· 檢測濃度范圍：0-3000 個/cm3

· 彩色觸摸屏，直觀的用戶界面

· *ISO 21501-01/04要求

· 輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數(shù)濃度和質量濃度

· 收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析

· 電池電量可供20小時的操作

· 最多可存儲30000個數(shù)據(jù)

· 記錄每個樣品的溫度和壓力

美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 技術參數(shù)

測量原則：
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制：
3,000個/cm3 （3,000,000個/L）
質量濃度：
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑：
檢測粒徑范圍：0.3-10 mm
粒徑分辨率：0.5mm時5%（符合ISO 21501-01/04）
粒徑通道：最多16通道，用戶可調

關鍵詞：觸摸屏