上海福軒環(huán)??萍加邢薰?/p>
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- 產(chǎn)品型號
- 品牌
- 其他 廠商性質(zhì)
- 上海市 所在地
訪問次數(shù):187更新時間:2022-07-14 09:40:48
用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害;
主要技術(shù)參數(shù)
工作室規(guī)格:80L~1000L 定制
1、高溫室:
(1)預熱溫度范圍:+60℃~+200℃
(2)升溫時間:+60℃→+200℃ ≤20min(高溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能);
2、低溫室:
(1)預冷溫度范圍:-78℃~0℃
(2)降溫時間:+20℃ →-75℃≤75 min(低溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能);
3、試驗室:
(1)、高溫曝露溫度范圍:+60℃~+150℃
(2)、低溫曝露溫度范圍:-55℃~-10℃
(3)、溫度波動度:1.0℃;
(4)、溫度偏差:±2.0℃;
4、溫度恢復性能:
(1)溫度恢復時間:≤5min
(2)恢復條件:
高溫曝露:+150℃ 30分鐘
環(huán)境溫度曝露:<———>
低溫曝露:-55℃ 30分鐘
主要系統(tǒng)構(gòu)成
送分循環(huán)系統(tǒng),加熱系統(tǒng),冷凍系統(tǒng),電路控制系統(tǒng),安全保護系統(tǒng)等
選配項:(有線/無線)通訊,防爆型
使用環(huán)境條件
溫度:0~35℃
大氣壓:86~106Kpa
相對濕度:≤85%RH
周圍無強烈振動,無陽光直接照射或其它熱源直接輻射,無強烈電磁場影響,無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì),場地通風良好。
滿足標準
GJB/150.5-2009 溫度沖擊試驗
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T2423.22-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
備注: