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      北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
                                
                
                
      

							
      
                        			
      
		
      
	
      
	
	
      
		
      
            
      
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      SCTS-2000系型雙電測式四探針測試儀
      
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								更新時間：2023-08-09 11:12:35瀏覽次數(shù)：203次
							
      
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      經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家
      
						
      商鋪產(chǎn)品：91條
      
						
      所在地區(qū)：北京北京市
      
						
      聯(lián)系人：謝偉華 （經(jīng)理）
      												
					
      
				
      
			
      			
      
                                
      
                    產(chǎn)品簡介
                
      
				
      
                      
      
                                                                      
      
					
      SCTS-2000系型雙電測式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測-改進(jìn)形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高正確度，別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
      
				
      
				
      
                    詳細(xì)介紹
                
      
			    
      
			        
      
			            
       SCTS-2000系型雙電測式四探針測試儀
      關(guān)鍵詞：雙電測，導(dǎo)電薄膜，導(dǎo)體
                                                     
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      SCTS-2000系型雙電測式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測-改進(jìn)形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高正確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
      一、主要特點(diǎn)： 
      1、根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；
      2、也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。
      3、換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。
      4、由主機(jī)、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
            
      二、基本技術(shù)參數(shù)
      3.1  測量范圍
          電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
          方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
          電  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
      3.2  材料尺寸(由選配測試臺決定和測試方式?jīng)Q定)
          直   徑：圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
          SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
          長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
          測量方位: 軸向、徑向均可
      3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表：
          (1)量程： 20.00mV～2000mV
          (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
      3.4  數(shù)控恒流源
         (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
         (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
      3.5  四探針探頭（選配其一或加配全部）
         (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)
         (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)
      3.6 電源
         輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功耗：<20W
      3.7 外形尺寸：
         主機(jī)  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）
       

      
			        
      
			    
      
                                                				
			
      
			
      
		
      
	
      
	
    
      
		
      
			
      
				
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