南昌幸和工業(yè)技術(shù)有限公司
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- SCM-100 產(chǎn)品型號
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- 其他 廠商性質(zhì)
- 南昌市 所在地
訪問次數(shù):83更新時間:2022-05-03 09:30:49
作為下一代功率半導體,GaN和SiC因?qū)⒐β蕮p耗減半和輕量化而備受關(guān)注。
SiC功率器件存在晶體缺陷,但通過使用SCM-100解決此問題,可以快速觀察和分類。
SCM-100 能夠?qū)㈩A編程電流施加到 SiC 樣品中晶體管的內(nèi)置二極管。由于施加電流時電流不流動的部分(缺陷)不發(fā)光,因此它是一種可以通過安裝在顯微鏡上的相機拍照來發(fā)現(xiàn)缺陷的設(shè)備。SiC樣品的表面可以用顯微鏡放大,可見光區(qū)域的發(fā)射可以用相機監(jiān)測,以觀察原位缺陷的生長情況。可以以*佳間隔拍攝和保存圖像。可選的 Pelche 冷卻水冷卻單元將 SiC 器件樣品臺的溫度保持在 80°C 以下。
- 用相機拍攝 SiC 樣品的顯微鏡圖像并將其輸出到實時 LCD 上
- SD 卡上*多可保存 999 張照片,拍攝間隔為 3 秒至 24 小時。
- 輸出電壓、輸出電流、狀態(tài)信息*快可采樣0.1秒。
- 一臺PC可以控制五個電源并保存數(shù)據(jù)
- 當輸出到 17 英寸 LCD 時,觀察倍率約為 60 到 200 倍。
- SiC樣品中缺陷生長的原位觀察