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SCM-100SiC顯微鏡觀察系統(tǒng)
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具體成交價以合同協(xié)議為準- SCM-100 產(chǎn)品型號
- 品牌
- 其他 廠商性質(zhì)
- 南昌市 所在地
訪問次數(shù)：99更新時間：2022-05-02 15:04:25
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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
詳情介紹：
作為下一代功率半導體，GaN和SiC因?qū)⒐β蕮p耗降低一半和重量而受到關注。作為 SiC 功率器件的問題，存在堆垛層錯。為了解決這個問題，SCM-100被設計成可以快速觀察和分類。
SCM-100 具有將預編程電流施加到 SiC 采樣晶體管的內(nèi)置二極管的功能。通電時電流不流動的部分（缺陷）不發(fā)光（或微弱），因此可以用安裝在顯微鏡上的相機拍攝并發(fā)現(xiàn)缺陷。用顯微鏡放大 SiC 樣品的表面，可以通過攝像頭監(jiān)測可見區(qū)域的發(fā)射，以原位觀察缺陷的生長或收縮。圖像可以以*佳間隔拍攝并保存。可選的 Peltier 冷卻單元將 SiC 器件的樣品臺溫度保持在 80°C 以下
特征
- SiC樣品的顯微鏡圖像用相機拍攝并實時輸出到LCD
- SD卡*多可保存999張照片，拍攝間隔為3秒至24小時
- 輸出電壓、輸出電流、狀態(tài)信息*快可采樣0.1秒
- 一臺PC*多可以控制五個電源，可以保存數(shù)據(jù)。
- 輸出到約17英寸LCD時，觀察倍率約60倍至約200倍
- SiC樣品缺陷生長的原位觀察
應用
- SiC器件、晶圓
產(chǎn)品應用示例
＊一臺PC*多可管理5個電源，也可同時啟動。Vmeas (V) 和 Imeas 可以實時顯示 (A)。結果保存在 Excel 中。
SiC缺陷部分照片（使用梳狀電極）
冷卻水循環(huán)裝置CCA-1112（選配）
規(guī)格 SCM-100 *規(guī)格如有更改，恕不另行通知。
| 活動舞臺 | 40X40mm |
| XY可動范圍 | ±6.5mm |
| 觀察倍率 | 在 16 英寸 LCD 上可變約 60 至約 200 倍 |
| 相機 | 相當于 PENTAX Q-S1（可間隔拍攝，C 接口，帶 AC 電纜） |
| 鏡片 | 佳能變焦鏡頭 EF-S55-250mm F4-5.6 IS II |
| 控制和數(shù)據(jù)處理 | PC（LAN、USB端子可用）／OS：Windows®７/8 |
| 樣品冷卻裝置（可選） | 冷卻水循環(huán)裝置 EYELA CCA-1112 珀耳帖溫度控制器 VTH-3500 |
| 直流穩(wěn)壓電源 | TEXIO PSW360L30Y1 Max.voltage30V, Max. 電流 36A （30V/12A-10V/36A） |
| 序列創(chuàng)建 | CSV 格式，在 USB 中讀取 |
| 記錄功能 | 輸出電壓、輸出電流和狀態(tài)信息可保存在內(nèi)存中 |
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