日本得樂TECLOCK針盤式深度計(jì)DM-233帶表深度規(guī)
深圳市安川測(cè)量?jī)x器有限公司
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訪問次數(shù):125更新時(shí)間:2023-09-18 19:05:45
日本sanko三高進(jìn)口SL-200E電磁模擬膜厚儀
日本sanko三高進(jìn)口SL-200E電磁模擬膜厚儀
探頭尺寸小,適合測(cè)量平面、曲面、圓棒、零件、復(fù)雜形狀、內(nèi)表面等局部涂層厚度。探頭尺寸小,適合測(cè)量平面、曲面、圓棒、零件、復(fù)雜形狀、內(nèi)表面等局部涂層厚度。探頭尺寸小,適合測(cè)量平面、曲面、圓棒、零件、復(fù)雜形狀、內(nèi)表面等局部涂層厚度
規(guī)格
測(cè)量范圍
I:0~50μm II:0~500μm
測(cè)量精度
均勻表面上顯示值的 ±1 μm 或 ±2%
電源
DC:AA 電池 (1.5V) x 8
AC:100V,50/60Hz(使用交流適配器)
工作溫度
0 至 40°C(無冷凝)機(jī)身尺寸190(寬)×90(高)×120(深)毫米重量1.8公斤配件標(biāo)準(zhǔn)厚度板、AC適配器、肩包探測(cè)2極型,磁極直徑φ2.5,極距5mm尺寸:10(W)×17(H)×21(D)mm