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      JB-T180顯微圖像粒度儀

      參  考  價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準

      產(chǎn)品型號

      品       牌

      廠商性質生產(chǎn)商

      所  在  地上海市

      更新時間:2022-07-25 14:45:53瀏覽次數(shù):279次

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      JB-T180是國內新一代靜態(tài)顆粒圖像分析設備,它采用新的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論結合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時,將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來,使用戶可以詳細的了解顆粒。此外,該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標志、使其操作更簡便、分析更智能、結果更穩(wěn)定,是顆粒粒度測試及粒形......
      品牌:久濱
      型號:JB-T180
      名稱:顯微圖像粒度儀
      一、產(chǎn)品概述:
        JB-T180是國內新一代靜態(tài)顆粒圖像分析設備,它采用新的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論結合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時,將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來,使用戶可以詳細的了解顆粒。此外,該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標志、使其操作更簡便、分析更智能、結果更穩(wěn)定,是顆粒粒度測試及粒形分析的**搭檔和得力助手。
      二、性能特點:
      1.直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕,用戶可以直觀且全面了解顆粒的表面及形狀屬性;
      2.拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅,使參與分析的顆粒數(shù)量更多,測試結果更具代表性;
      3.自適應二值化功能 采用一種自適應二值化功能,使其進行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響,避免了因光線不均勻等因素而導致顆粒信息丟失的情況,為后續(xù)處理的精準度奠定基礎;
      4.自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集,集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數(shù)等功能的自動操作,一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結果的生成等全部過程,操作簡便且結果可靠;
      5.自由切換粒徑單位 標尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換,便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實現(xiàn)進一步處理;
      6.快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒,采用的處理算法,對原始圖片無需進行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息,即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結果,提高球形顆粒的分析效率。
      三、適用范圍:
        JB-T180靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
      四、技術參數(shù):
      1.規(guī)格型號:JB-T180
      2.執(zhí)行標準:ISO13322-1:   2004; GB/T21649.1-2008
      3.顯微系統(tǒng):物鏡:4X、10X、40X、60X、100X(油)長距消色差(平場)物鏡組
                          目鏡:1X、10X、16X 大視野攝像目鏡
                          載物臺:手動三維機械式載物臺,尺寸:185mm×140mm,
                                        移動范圍:50mm×75mm,粗微同軸調焦,
                                        微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置
                         光源底部透射光源,6V 20W鹵素燈,亮度可調。可選頂部金相落射式光源(帶起偏振器)
                         總放大倍數(shù)4倍——1600倍
      4.攝像系統(tǒng):分辨率:2048×1536
                          像素尺寸:3.2μm×3.2μm
                          成像元件:1/1.8英寸 progress scan CMOS
                          幀率:6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480
                          清晰度:900線
                          信噪比:小于42dB
                          敏感度:1.0V@550nm/lux/S
                          輸出方式:USB2.0
                          實際觀測范圍:1-6000μm
      5.軟件功能靜態(tài)采集:將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片
                          圖片處理:使用多種畫圖工具對圖片進行比較簡單的處理
                          圖像拼接:將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時也可單張分析保存后再進行拼接,進一步提高了結果的準確性。
                          顆粒的自動處理工具集:自動消除顆粒粘連、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。
                          比例尺標定:通過國家標準測微尺標定后,每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。
                          單個顆粒數(shù)據(jù):可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數(shù)的分析。
                          任務管理機制:嚴格的任務管理機制,使用戶能夠將所有測試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。
                          報告輸出:將測試結果輸出為報告,并可以自由修改報告樣式。
                          整體分布特征參數(shù):D10、D50(中位徑)、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)
      6.報告參數(shù):整體頻率分布累計分布顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。
                          統(tǒng)計平均徑:Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑
                          形狀參數(shù):長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù)
                          個數(shù)統(tǒng)計:直接得到所觀測的顆粒數(shù)量
                          樣品縮略圖:可以將樣品彩色或黑白(可選擇)縮略圖顯示到報告中
                          表頭輸入:可以將樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭中

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