廣州立功科技股份有限公司
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訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):647更新時(shí)間:2021-09-25 17:37:36
傳統(tǒng)的充/放電電容測(cè)量方式存在以下的問(wèn)題:
- 在充/放電檢測(cè)過(guò)程中,容易受到EMC干擾;
- 沒(méi)有理想的電容,每個(gè)電容都有寄生參數(shù)的存在;
- 電路中始終存在因環(huán)境因素而變化的等效并聯(lián)電阻。
AS8579根據(jù)測(cè)量阻抗值原理進(jìn)行設(shè)計(jì),內(nèi)部集成了模擬多路復(fù)用器(MUX),多達(dá)10路的阻抗值檢測(cè)通道。MCU可從AS8579中讀取每個(gè)通道所采集的I和Q分量,從任意兩個(gè)通道測(cè)量的結(jié)果中推導(dǎo)出電容值,這樣的測(cè)量方式去除了等效并聯(lián)電阻的影響,直接計(jì)算出最準(zhǔn)確的電容值。
