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      HC32F460 系列的片上溫度傳感器 OTS
      參考價: 51
      訂貨量: 1
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 產(chǎn)品型號
      • 品牌
      • 代理商 廠商性質(zhì)
      • 沈陽市 所在地

      訪問次數(shù):402更新時間:2021-07-15 09:57:44

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      產(chǎn)品簡介
      1 1
      HC32F460 系列 MCU 的片上溫度傳感器 OTS,可實時獲取芯片內(nèi)部的溫度,以支持系統(tǒng)的可靠性設(shè)計。OTS 不需要 ADC 的參與,使用時只需直接讀取寄存器,算術(shù)運算后即可得到溫度值,不使用的時候可關(guān)閉以減少系統(tǒng)功耗。
      產(chǎn)品介紹

      1

      摘要

      本應(yīng)用筆記主要介紹 HC32F460 系列 MCU 的片上溫度傳感器 OTS 的特點、使用方法及注意事項。

      2

      簡介

      HC32F460 系列 MCU 的片上溫度傳感器 OTS,可實時獲取芯片內(nèi)部的溫度,以支持系統(tǒng)的可靠性設(shè)計。OTS 不需要 ADC 的參與,使用時只需直接讀取寄存器,算術(shù)運算后即可得到溫度值,不使用的時候可關(guān)閉以減少系統(tǒng)功耗。

      3

      定標(biāo)實驗

      要想獲得準(zhǔn)確的溫度值,有兩個參數(shù)非常重要,一個是溫度斜率 K,一個是溫度偏移量 M。這兩個參數(shù)需要用戶通過定標(biāo)實驗來得到,然后保存起來,供后續(xù)使用。參數(shù) K M 不具有通用性,每顆芯片都需要做定標(biāo)實驗;OTS 可選擇外部晶振 XTAL 或內(nèi)部高速晶振 HRC,兩種晶振測得的 K M 也不具有通用性。

      3.1

      實驗條件

      定標(biāo)實驗需要一個高低溫箱,一個數(shù)字溫度計(用來獲取高低溫箱內(nèi)的準(zhǔn)確溫度值,如果高低溫箱的溫度足夠精準(zhǔn),則不需要),串口調(diào)試工具(用來觀察實驗數(shù)據(jù))。推薦用戶在 25℃和 105℃這兩個溫度值上做定標(biāo)實驗。

      3.2

      實驗步驟

      定標(biāo)實驗例程 ots_05_scaling_experiment 中設(shè)置有定標(biāo)實驗的觸發(fā)方式,例程中用的是按鍵 (引腳 PC1)按下并釋放作為觸發(fā)方式,之所以設(shè)置觸發(fā)方式,是為了讓實驗是可控制的。用戶可根據(jù)自己的實際需求,修改觸發(fā)方式。具體實驗步驟如下。

      1.

      修改好觸發(fā)方式后,重新編譯工程,并下載到目標(biāo)板;

      2.

      將目標(biāo)板和數(shù)字溫度計放入高低溫箱,設(shè)置高低溫箱溫度為 25℃,并啟動高低溫箱;

      3.

      待高低溫箱溫度穩(wěn)定在 25℃約 5 分鐘后,觸發(fā)定標(biāo)實驗運行;

      4.

      通過串口調(diào)試助手可獲得一個參數(shù) A,記為 A1,并記錄當(dāng)前高低溫箱的實際溫度為 T1;

      5.

      將高低溫箱溫度設(shè)置為 105℃并運行;

      6.

      待高低溫箱溫度穩(wěn)定在 105℃約 5 分鐘后,觸發(fā)定標(biāo)實驗運行;

      7.

      通過串口調(diào)試助手可獲得一個參數(shù) A,記為 A2,并記錄當(dāng)前高低溫箱的實際溫度為 T2;

      8.

      通過下面兩個公式可得 K M

      K = (T2 – T1) / (A2 – A1);

      M = T1 – K × A1 = T2 – K × A2;

      本實驗例程會輸出 XTAL HRC 對應(yīng)的參數(shù) A,用戶可根據(jù)實際需求計算對應(yīng)的 K M

      9.

      修改 hc32f46x_ots.c K M 的值,利用例程 ots_01_base 便可驗證參數(shù)的準(zhǔn)確性;

      10.

      用戶可將 K M 保存至 Flash,以備后續(xù)使用;

      11.

      定標(biāo)實驗結(jié)束。

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