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摘要
本應(yīng)用筆記主要介紹 HC32F460 系列 MCU 的模數(shù)轉(zhuǎn)換器（以下簡稱 ADC）的特點(diǎn)及使用方法，包括掃描模式、轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)平均功能、模擬看門狗、可編程增益放大器和協(xié)同模式等。
2
ADC 簡介
2.1
功能簡介
HC32F460 系列 MCU 內(nèi)部集成 ADC1 和 ADC2 兩個 ADC 模塊（系統(tǒng)框圖如圖 2-1），掛載于AHB-APB（APB3）總線，可配置 12 位、10 位和 8 位分辨率，支持最多 16 個外部模擬輸入通道和 1 個內(nèi)部基準(zhǔn)電壓/8bitDAC 輸出的檢測通道。這些模擬輸入通道可以任意組合成一個序 列（序列 A 或序列 B），一個序列可以進(jìn)行單次掃描（包括兩個動作：采樣和轉(zhuǎn)換），或連續(xù)掃描。支持對任意通道進(jìn)行連續(xù)多次掃描，并對轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行平均。ADC 模塊還搭載模擬看門狗（以下簡稱 AWD）功能，可對任意通道的轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行監(jiān)視，檢測是否超出設(shè)定的閥值。
2.2 主要特性
HC32F460 系列 MCU 的 ADC 具有如下主要特性：
1) 高性能
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可配置 12 位、10 位和 8 位分辨率
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周邊時鐘（數(shù)字時鐘）PCLK4 和 A/D 轉(zhuǎn)換時鐘 ADCLK 的頻率比可選擇：
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PCLK4 : ADCLK = 1 : 1，2 : 1，4 : 1，8 : 1，1 : 2，1 : 4
?
ADCLK 可選與系統(tǒng)時鐘 HCLK 異步的 PLL 時鐘，此時 PCLK4 : ADCLK = 1:1
?
采樣率：2.5MSPS（PCLK4 = ADCLK = 60MHz，12 位分辨率，采樣 11 周期）
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各通道可獨(dú)立設(shè)置采樣時間
?
各通道獨(dú)立數(shù)據(jù)寄存器
?
數(shù)據(jù)寄存器可配置數(shù)據(jù)對齊方式
?
連續(xù)多次轉(zhuǎn)換平均功能
?
模擬看門狗，監(jiān)視轉(zhuǎn)換結(jié)果
?
不使用時可將 ADC 模塊設(shè)定為停止?fàn)顟B(tài)
2) 模擬輸入通道
?
最多有 16 個外部模擬輸入采樣通道
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1 個內(nèi)部基準(zhǔn)電壓/8bitDAC 輸出的檢測通道
?
最多有 16 個外部模擬輸入引腳，外部模擬輸入引腳可與采樣通道自由映射
3) 轉(zhuǎn)換開始條件
?
軟件啟動開始轉(zhuǎn)換（只支持序列 A）
?
外設(shè)事件觸發(fā)開始轉(zhuǎn)換（支持序列 A 和序列 B）
?
外部引腳觸發(fā)開始轉(zhuǎn)換（支持序列 A 和序列 B）
4) 轉(zhuǎn)換模式
?
序列 A 單次掃描
?
序列 A 連續(xù)掃描
?
雙序列掃描
?
協(xié)同模式
5)
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序列 A 掃描結(jié)束中斷和事件 ADC_EOCA
?
序列 A 掃描結(jié)束中斷和事件 ADC_EOCB
?
模擬看門狗通道比較中斷和事件 ADC_CHCMP，序列比較中斷和事件 ADC_SEQCMP
?
上述 4 個事件輸出都可啟動 DMA
2.3 引腳配置
HC32F460 系列 MCU 的 ADC1 有 17 個采樣通道，最多支持 16 個外部模擬輸入引腳，通道0~15 可與外部模擬輸入引腳自由映射，通道 16 用于內(nèi)部基準(zhǔn)電壓/8bitDAC 的輸出檢測。ADC2 有 9 個采樣通道，最多支持 8 個外部模擬輸入引腳，通道 0~7 可與外部模擬輸入引腳自由映射，通道 8 用于內(nèi)部基準(zhǔn)電壓/8bitDAC 的輸出檢測。
3
ADC 應(yīng)用
3.1
模擬輸入引腳與通道
HC32F460 系列 MCU 的 ADC 模塊模擬輸入引腳等配置,
默認(rèn)情況下，ADC1 的 CH0（通道 0）對應(yīng)模擬輸入引腳 ADC1_IN0，CH1 對應(yīng)
ADC1_IN1……，CH16 為內(nèi)部模擬通道，只能用于檢測內(nèi)部基準(zhǔn)電壓、8bitDAC1 或
8bitDAC2。也就是，默認(rèn)情況下，ADC1 序列 A 的通道選擇寄存器 ADC1_CHSELRA0（或序列 B 的通道選擇寄存器 ADC1_CHSELRB0）的 bit0 置 1，即選擇了模擬輸入引腳 ADC1_IN0，bit1 置 1，即選擇模擬輸入引腳ADC1_IN1；序列 A 的通道選擇寄存器ADC1_CHSELRA1（或序列 B 的通道選擇寄存器 ADC1_CHSELRB1）的 bit0 置 1，即選擇了內(nèi)部模擬輸入，用于檢測內(nèi)部基準(zhǔn)電壓、8bitDAC1 或 8bitDAC2。但是，HC32F460 系列的 ADC 模塊具有模擬輸入引腳與通道自由映射（除用于檢測內(nèi)部模擬輸入的通道外）的功能，可滿足用戶不同的應(yīng)用需求。例如，可將引腳 ADC12_IN10 映射到ADC1 的一個通道（如 CH0，不能映射到 CH16），或同時映射到多個通道（如 CH0、CH2 和 CH3）。
ADC2 通道與引腳的默認(rèn)對應(yīng)關(guān)系和通道重映射與 ADC1 的類似。
關(guān)于通道重映射，固件例程 adc_11_channel_remap 給出了其具體用法。
3.2 模擬輸入的采樣時間和轉(zhuǎn)換時間
關(guān)于 ADC 時間的詳細(xì)說明，請參考用戶手冊“模擬輸入的采樣時間和轉(zhuǎn)換時間”一節(jié)中，寄存器 ADC_SSTR 和 ADC 電氣特性部分，請嚴(yán)格按照手冊要求設(shè)置采樣時間。在滿足應(yīng)用需求的情況下，請盡量將采樣時間設(shè)置得大一些，尤其在對多個通道采樣時，如果通道的采樣時間設(shè) 置偏小，可能會導(dǎo)致相鄰?fù)ǖ溃ㄈ缧蛄?A 配置了 CH0、CH5、CH7，那么 CH0 和 CH5、CH5 和 CH7 都是相鄰?fù)ǖ溃┲g透過采樣電容發(fā)生耦合，而使轉(zhuǎn)換結(jié)果不準(zhǔn)確。
3.3 模式和功能
ADC 的通道可配置為序列 A 或序列 B，序列 A 和序列 B 可單獨(dú)設(shè)置不同的觸發(fā)源。兩個序列共有四種掃描方式：
?
序列 A 單次掃描；
?
序列 A 連續(xù)掃描；
?
序列 A 單次掃描，序列 B 單次掃描；
?
序列 A 連續(xù)掃描，序列 B 單次掃描。
各通道還可設(shè)置平均功能，可連續(xù)掃描設(shè)定次數(shù)后，計(jì)算轉(zhuǎn)換的平均值，并將平均值保存到數(shù)據(jù)寄存器中；模擬看門狗 AWD 在通道轉(zhuǎn)換結(jié)束后對轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行比較，可生成通道比較中斷和事件 ADC_CHCMP，在整個序列掃描結(jié)束后，根據(jù)各通道比較結(jié)果生成序列比較中斷和事件 ADC_SEQCMP；可編程增益放大器 PGA，可對模擬輸入信號放大后再轉(zhuǎn)換；協(xié)同工作模式下，ADC1 和 ADC2 可同時轉(zhuǎn)換或連續(xù)交替轉(zhuǎn)換；模擬輸入引腳可與 ADC 通道的自由映射，再結(jié)合協(xié)同模式，可實(shí)現(xiàn)對模擬輸入的高頻掃描。
3.4 序列 A 單次掃描模式
3.4.1 說明
在此模式下，ADC 執(zhí)行單個或多個通道的單次掃描，并在轉(zhuǎn)換完成后停止.
3.4.2 應(yīng)用
該模式可以設(shè)置單個或多個通道。設(shè)置多個通道時，可實(shí)現(xiàn)對多個通道進(jìn)行依次掃描，這些通道可設(shè)置不同的采樣時間，用戶不必在掃描過程中停止 ADC，即可以不同的采樣時間重新掃描下一個通道，可避免額外的 CPU 負(fù)載以及繁重的軟件開發(fā)。
該模式是簡單的 ADC 模式，應(yīng)用方式靈活。如在系統(tǒng)啟動前，可以用這種模式檢測系統(tǒng)的一些狀態(tài)信息，如電壓、壓力、溫度等，以確定系統(tǒng)是否可以正常啟動；在系統(tǒng)運(yùn)行中，可用 這種模式，按需檢測系統(tǒng)狀態(tài)，以獲取系統(tǒng)實(shí)時狀態(tài)。
應(yīng)用例程 adc_01_sa_base 給出了該模式的具體用法。
3.5 序列 A 連續(xù)掃描模式
3.5.1 說明
連續(xù)掃描模式可對單個通道或多個通道進(jìn)行連續(xù)不斷的掃描。連續(xù)掃描模式允許
ADC 在后臺工作。因此，ADC 可在沒有任何 CPU 干預(yù)的情況下對通道進(jìn)行連續(xù)（循環(huán)）掃描通道。此外，還可以在連續(xù)掃描模式下使用 DMA，從而降低 CPU 負(fù)載。
3.5.2 應(yīng)用
此模式設(shè)置單個通道時，可用于監(jiān)視電池電壓、測量和調(diào)節(jié)烤箱溫度等應(yīng)用。在用于調(diào)節(jié)烤箱溫度時，系統(tǒng)將讀取溫度并與用戶設(shè)置的溫度進(jìn)行比較。當(dāng)烤箱溫度達(dá)到所需溫度時，關(guān)閉加熱電阻器的電源。
設(shè)置多個通道時，與多通道單次掃描模式類似，只是在完成序列的一個通道后不會停止掃描，而是從一個通道重新開始掃描并無限循環(huán)下去。多通道連續(xù)掃描模式，可用于監(jiān)視多電池充電器中的多個電壓和溫度。系統(tǒng)在充電過程中讀取每節(jié)電池的電壓和溫度。當(dāng)電壓或溫度達(dá)到大值時，將切斷相應(yīng)電池與充電器的連接。
應(yīng)用例程 adc_01_sa_base 中有該模式的設(shè)置以及簡單的應(yīng)用方法。
3.6 雙序列掃描模式
3.6.1 說明
此處將“序列 A 單次掃描、序列 B 單次掃描”和“序列 A 連續(xù)掃描、序列 B 單次掃描”兩種模式整合為雙序列掃描模式進(jìn)行介紹。雙序列掃描模式，只是在前兩種模式中增加了序列 B 的掃描。雙序列掃描模式下，序列 B 必須由外部引腳或內(nèi)部事件觸發(fā)轉(zhuǎn)換，軟件啟動對序列 B 無 效，序列 A 可由軟件啟動掃描，也可由外部引腳或內(nèi)部事件觸發(fā)掃描。序列 B 的優(yōu)先級高于 序列 A. 配置 ADC_CR1.RSCHSEL 為 0 時，當(dāng)序列 A 被中斷后，恢復(fù)時，從被中斷通道繼續(xù)掃描.
3.6.2 應(yīng)用
可在前兩種模式的應(yīng)用中，加入需要實(shí)時響應(yīng)（更高優(yōu)先級）掃描的通道，將其配置為序列B。例程 adc_04_sa_sb_event_trigger 實(shí)現(xiàn)了雙序列掃描的基本用法。
3.7 轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)平均功能
3.7.1 說明
轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)平均功能，可設(shè)置連續(xù)掃描 2、4、8、16、32、64、128 或 256 次后，將轉(zhuǎn)換結(jié)果平均后，保存到數(shù)據(jù)寄存器。該功能可去除一定的噪聲成分，使結(jié)果更加準(zhǔn)確。該功能的優(yōu)勢是可以在無任何硬件變更的情況下提高 ADC 的準(zhǔn)確度，缺點(diǎn)是降低了轉(zhuǎn)換速度和頻率（相當(dāng)于降低了有效采樣率）。
3.7.2 應(yīng)用
針對不同的應(yīng)用，可設(shè)置不同的連續(xù)掃描次數(shù)，該次數(shù)取決于需要的精度、低轉(zhuǎn)換速度等。應(yīng)用筆記沒有單獨(dú)為該功能提供例程，在例程 adc_01_sa_base 中有該功能的配置方式。
3.8
模擬看門狗
3.8.1
說明
HC32F460 系列 MCU 的模擬看門狗，可配置為上下限比較或區(qū)間比較。用戶可預(yù)先設(shè)置比較條件和相應(yīng)的上下限或區(qū)間。在通道轉(zhuǎn)換結(jié)束后，模擬看門狗對轉(zhuǎn)換結(jié)果
進(jìn)行比較，如果滿足比較條件，則產(chǎn)生通道比較中斷和事件 ADC_CHCMP，在整個序列掃描結(jié)束后，根據(jù)各通道比較結(jié)果生成序列比較中斷和事件 ADC_SEQCMP。每個使能模擬看門狗的通道，只要其轉(zhuǎn)換結(jié)果滿足比較條件，都會產(chǎn)生一次中斷和事件 ADC_CHCMP；每個序列，只要其中一個通道的轉(zhuǎn)換結(jié)果滿足比較條件，都會產(chǎn)生中斷和事件 ADC_SEQCMP。在條件滿足后，一個序列只產(chǎn)生一次中斷和事件 ADC_SEQCMP。也就是，一個 ADC 模塊，一輪
掃描結(jié)束后，可產(chǎn)生多次中斷和事件 ADC_SEQCMP，最多兩次（因?yàn)樽疃嘀挥袃蓚€序列）中斷和事件 ADC_SEQCMP。
注意：
- 不推薦同時使用 ADC_CHCMP 中斷和 ADC_SEQCMP 中斷。
3.8.2
應(yīng)用
在一些控制系統(tǒng)中，需要嚴(yán)格監(jiān)測電壓、壓力、溫度等信號的范圍，使用模擬看門狗能夠快速地檢測到這些信號的異常狀況，并做出相應(yīng)的應(yīng)對措施，以確保設(shè)備安全。例程adc_08_sa_sb_awd_base 給出了模擬看門狗的配置和基本應(yīng)用方法；但通常，模擬看門狗的中斷用法更為高效，應(yīng)用也更為普遍，例程 adc_09_sa_sb_awd_interrupt 給出了模擬看門狗的中斷配置和用法。
3.9
內(nèi)部模擬通道
3.9.1
說明
ADC1 和 ADC2 都具有一個用于檢測內(nèi)部模擬輸入的通道，分別為通道 16 和通道 8，用來檢測三個可選擇的內(nèi)部模擬輸入量，內(nèi)部基準(zhǔn)電壓、8bitDAC1 輸出8bitDAC2 輸出。
注意：
- 只能選擇 ADC1 和 ADC2 其中之一的內(nèi)部檢測通道，來檢測三個內(nèi)部模擬輸入的其中一個，不能同時使用 ADC1 和 ADC2 的內(nèi)部檢測通道。
3.9.2
應(yīng)用
在一些系統(tǒng)中，可能由于某些原因?qū)е?ADC 的參考電壓不穩(wěn)定，從而無法知道模擬輸入的實(shí)際電壓值，這時，可用 ADC1 或 ADC2 的內(nèi)部檢測通道，來檢測內(nèi)部基準(zhǔn)電壓（在系統(tǒng)工作電壓正常時恒為 1.1V），來反推 ADC 當(dāng)前的參考電壓，從而得知模擬輸入當(dāng)前的實(shí)際電壓值。具體實(shí)現(xiàn)如下：
1.
在某已知參考電壓 VREF1 下測得內(nèi)部基準(zhǔn)電壓的 ADC 值為 VAL1；
2.
隨著系統(tǒng)的運(yùn)行，參考電壓可能隨著供電源（如電池）的電壓降低而下降，此時測得內(nèi)部基準(zhǔn)電壓的 ADC 值為 VAL2，設(shè)此時參考電壓為 VREF2；
3.
由于內(nèi)部基準(zhǔn)電壓是恒定的，所以有：
VAL1 × VREF1 = VAL2 × VREF2;
VREF2 = (VAL1 × VREF1) / VAL2;
由此已知當(dāng)前參考電壓為 VREF2，就不難得到模擬輸入的實(shí)際電壓了。
例程 adc_10_internal_channel 展示了內(nèi)部通道的各種配置和簡單用法。
3.10 可編程增益放大器 PGA
3.10.1 說明
HC32F460 系列 MCU 集成了可編程增益放大器 PGA，能對模擬信號進(jìn)行放大處理，可節(jié)省MCU 外接運(yùn)算放大器的硬件成本。PGA 電路先將模擬信號進(jìn)行放大，然后再將放大后的模擬信號輸出至 ADC 模塊進(jìn)行采樣轉(zhuǎn)換。
注意：
-
只有 ADC1 支持 PGA；
-
PGA 通道直接與模擬輸入引腳對應(yīng)，其對應(yīng)引腳映射的通道必須被 ADC1 序列 A 或序列B 的通道選擇寄存器選中，才可對該模擬輸入進(jìn)行放大。
3.10.2 應(yīng)用
用戶可根據(jù)實(shí)際的應(yīng)用場景，選擇合適的放大倍數(shù)，對模擬輸入進(jìn)行放大。模擬輸入電壓和放大倍數(shù)必須滿足如下條件：
0.1*VCCA/Gain <= VI <= 0.9*VCCA/Gain
其中，VCCA 是模擬電源電壓，Gain 是放大倍數(shù)，VI 是模擬輸入電壓，具體請參考用戶手冊PGA 相關(guān)部分。關(guān)于 PGA 的配置和用法，請參考例程 adc_12_adc1_pga。
3.11 協(xié)同模式
HC32F460 系列 MCU 具有兩個 ADC 模塊，可使用 ADC 協(xié)同工作模式。在協(xié)同工作模式下，轉(zhuǎn)換啟動只能由 ADC1 的觸發(fā)源觸發(fā)啟動，且軟件啟動無效。
協(xié)同模式可配置為以下四種協(xié)同模式：
?
單次并行觸發(fā)模式
?
單次延遲觸發(fā)模式
?
循環(huán)并行觸發(fā)模式
?
循環(huán)延遲觸發(fā)模式
注意：
-
協(xié)同模式只能由 ADC1 配置；
-
設(shè)置為協(xié)同工作模式的 ADC，其配置（掃描模式、分辨率和數(shù)據(jù)對齊方式等）應(yīng)盡量相同；具體通道無需相同，但是通道數(shù)量及對應(yīng)采樣時間應(yīng)相同；
-
使用單次觸發(fā)時，請將協(xié)同工作模式的 ADC 設(shè)置為序列 A 單次掃描或循環(huán)掃描；使用循環(huán)觸發(fā)模式時，請?jiān)O(shè)置為序列 A 單次掃描；
-
禁止多個 ADC 模塊同時對一個模擬輸入進(jìn)行采樣；
-
請嚴(yán)格按照用戶手冊協(xié)同模式相關(guān)部分的說明，來設(shè)置采樣時間（ADC_SSTR 寄存器）和協(xié)同模式控制寄存器 ADC_SYNCCR 的 SYNCDLY。
-
請禁止序列 B，以免打亂同步。
3.11.1 單次并行觸發(fā)模式
3.11.1.1 說明
該模式下，ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件同時觸發(fā)處于協(xié)同工作模式的所有 ADC 模塊， ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件只觸發(fā)處于協(xié)同工作模式的 ADC 模塊一次，這些 ADC 模塊在采樣轉(zhuǎn)換一次后，是否停止，視其序列 A 掃描模式而定。
3.11.1.2 應(yīng)用
并行觸發(fā)的特點(diǎn)是，處于協(xié)同工作模式的 ADC 能同時對各自的模擬輸入進(jìn)行采樣轉(zhuǎn)換。例如，測量單相或三相瞬時電功率并繪制其曲線：Pn(t) = Un(t) × In(t)。在這種情況下，應(yīng)同時測量電壓和電流，然后計(jì)算瞬時功率，即電壓 Un(t) 與電流 In(t)的乘積。要測量單相電功率，可將 ADC1 的一個通道和 ADC2 的一個通道配合使用，一個通道測量電壓，一個通道測量電流，如圖 3-9；要測量三相電功率，可將 ADC1 的三個通道和 ADC2 的三個通道配合使用，三個通道測量電壓，三個通道測量電流。
如果只需要測量某一時刻的瞬時功率，使用單次并行觸發(fā)模式即可；如果要連續(xù)測量，可結(jié)合定時器使用，用定時器定時觸發(fā)該協(xié)同模式，或結(jié)合序列 A 連續(xù)掃描模式，或用循環(huán)并行觸發(fā)模式，具體可根據(jù)需要的掃描頻率等需求選擇合適的解決方法。
3.11.2 單次延遲觸發(fā)模式
3.11.2.1 說明
ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件觸發(fā) ADC1 后，經(jīng)過設(shè)定的延遲后觸發(fā) ADC2 啟動采樣轉(zhuǎn)換。ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件只觸發(fā)處于協(xié)同工作模式的 ADC 模塊一次，這些 ADC 模塊在采樣轉(zhuǎn)換一次后，是否停止，視其序列 A 掃描模式而定。
3.11.2.2 應(yīng)用
結(jié)合序列 A 連續(xù)掃描模式，可實(shí)現(xiàn)對同一模擬輸入的高頻采樣。例如，如果要轉(zhuǎn)換的信號的頻率為 2.5MHz，則采樣率應(yīng)該大于或等于該信號頻率的二倍（符合香農(nóng)采樣定理）。
由于一個 ADC 的采樣率為 2.5MSPS，達(dá)不到采樣定理的要求。此時，可通過這種方式將采樣率提高到 5MSPS。關(guān)鍵設(shè)置如下：
1.
設(shè)置 ADC 時鐘為 60MHz；
2.
ADC1 和 ADC2 設(shè)置掃描模式為序列 A 連續(xù)掃描；
3.
ADC1 和 ADC2 配置同一個模擬輸入，并設(shè)置相同的采樣周期數(shù) ADC_SSTR = 11；
4.
配置同步模式為單次延遲觸發(fā)，并設(shè)置同步延遲時間 ADC_SYNCCR.SYNCDLY = 12。
注意：
- 不要為了更高的采樣率而縮減采樣時間 ADC_SSTR，采樣時間過短可能會使轉(zhuǎn)換結(jié)果的
誤差超出誤差值的設(shè)計(jì)范圍。
建議：強(qiáng)烈建議使用 DMA 而非中斷，以免數(shù)據(jù)丟失。
3.11.3 循環(huán)并行觸發(fā)模式
3.11.3.1 說明
該模式下，ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件同時觸發(fā)處于協(xié)同工作模式的所有 ADC 模塊。若設(shè)置為單次并行觸發(fā)，那么所有 ADC 模塊在轉(zhuǎn)換一次后就停止轉(zhuǎn)換（如果掃描模式是序列 A 單次掃描）；若設(shè)置為循環(huán)并行觸發(fā)，在 ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件同時觸發(fā)處于協(xié)同工作模式
的所有 ADC 模塊后，每經(jīng)過延遲之后，所有 ADC 模塊會再次同時觸發(fā)轉(zhuǎn)換，如此循環(huán)，直到用戶主動軟件停止 ADC1 模塊或禁止協(xié)同模式。
3.11.3.2 應(yīng)用
如果需要連續(xù)測量某模擬信號，可使用該模式，比如前面的測量電功率的應(yīng)用。
3.11.4 循環(huán)延遲觸發(fā)模式
3.11.4.1 說明
ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件觸發(fā) ADC1 之后，每經(jīng)過設(shè)定的延遲后，依次循環(huán)不斷觸發(fā) ADC2、ADC1、ADC2……，直到用戶主動軟件停止 ADC1 模塊或禁止協(xié)同模式。
3.11.4.2 應(yīng)用
該模式適用用于一些，需要對模擬輸入進(jìn)行循環(huán)交替采樣而對采樣率要求不是很高的應(yīng)用。這里簡單介紹下循環(huán)延遲觸發(fā)模式采樣率的計(jì)算方法。
假設(shè)如下條件：
1.
ADC 時鐘為 60MHz；
2.
采樣時間 ADC_SSTR 設(shè)置為 11；
3.
由 17.3.8 節(jié)和 17.4.16 節(jié)相關(guān)要求，SYNCDLY 可設(shè)置為 17。
4 總結(jié)
本應(yīng)用筆記簡要介紹了 HC32F460 系列 ADC 模塊的各種功能以及可能的應(yīng)用場景，并給出了ADC 模塊應(yīng)用的基本流程，還提供了一種測試高頻采樣率的方法，在實(shí)際開發(fā)中，用戶可根據(jù)具體應(yīng)用場景按需配置和應(yīng)用 ADC 模塊。
