光分路器PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)的用途:
光分路器PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)低氣壓試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品(整機(jī))、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫,高度(不高于海拔30000米或45000米)以及高低溫循環(huán)試驗(yàn)和溫度-高度綜合試驗(yàn),高、低溫試驗(yàn)時(shí)本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。低氣壓試驗(yàn)箱對(duì)于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn),其散熱功率不能超過試驗(yàn)箱制冷量,因制冷量為動(dòng)態(tài)值,其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化。
的結(jié)構(gòu):
型號(hào):HLP-408(非標(biāo)特殊要求,可定做)
溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃,溫度均勻度≤±2℃
降溫速率:0.7~1℃/min,升溫速率2~3℃/min
快速溫度變化試驗(yàn)箱:快速降溫3~5℃/min,快速升溫3~5℃/min)
噪音dB):≤65(以上均為空載)
范圍(kap):1~100
氣壓偏差:84kap~40kap時(shí):±2kap、84kap~40kap時(shí):±2kap、≤±2kap時(shí):±0.1kap
氣壓變化速率:≤10kap/min
的型號(hào)
1.高溫高濕運(yùn)行時(shí),在隔熱性能差的部位諸如觀察窗、電纜孔等地方容易結(jié)露。如果周圍環(huán)境溫度低于試驗(yàn)箱內(nèi)部的溫度,由于這些部位的隔熱性差,在試驗(yàn)箱內(nèi)側(cè)對(duì)應(yīng)的部位那里的溫度要低于試驗(yàn)箱內(nèi)濕空氣的露點(diǎn)溫度,所以容易發(fā)生結(jié)露。對(duì)于這種情況就需要提高斷熱程度,在電纜孔等隔熱性能差的地方增加斷熱材料。由于觀察窗的斷熱方式很難采取,所以為了防止觀察窗結(jié)露,要將觀察窗靠試驗(yàn)箱內(nèi)側(cè)表面的溫度提高到試驗(yàn)箱內(nèi)濕空氣的露點(diǎn)溫度以上,所以用在觀察窗靠試驗(yàn)箱內(nèi)側(cè)表面貼加熱膜的方式來避免結(jié)露。
2.高溫高濕運(yùn)行時(shí),空氣循環(huán)裝置的循環(huán)風(fēng)難以吹到的地方諸如試驗(yàn)樣品的背風(fēng)面、試驗(yàn)樣品的周邊部位容易結(jié)露。試驗(yàn)箱內(nèi)部的空氣是通過空氣循環(huán)置進(jìn)行熱交換的。但是,空氣循環(huán)裝置本身也接觸空氣進(jìn)行熱交換,以維持其溫度。因此空氣流動(dòng)慢的地方溫度較低容易結(jié)露。調(diào)整空氣循環(huán)裝置,使得試驗(yàn)箱內(nèi)循環(huán)風(fēng)的流動(dòng)更全面均勻。同時(shí)調(diào)整試驗(yàn)樣品的安置方式,要保證不影響到循環(huán)風(fēng)的流動(dòng)。
3.濕度由低到高,溫度也由低到高運(yùn)行時(shí),熱容量大的部位如試驗(yàn)箱內(nèi)部的壁面、試樣等容易結(jié)露。熱容量是指將重量為m的物質(zhì)上升1℃所需要的能量??諝獾臒崛萘勘容^小。如果同時(shí)溫度上升濕度增加,那么試驗(yàn)箱內(nèi)的濕空氣容易成為過飽和濕空氣,容易結(jié)露。同時(shí)由于試驗(yàn)箱內(nèi)部的各個(gè)部位熱容大,各個(gè)部位的溫度跟隨空氣溫度的隨便性差,因此其溫度的上升比空氣慢得多,容易造成結(jié)露。對(duì)于這種情況,可以首先使試驗(yàn)箱內(nèi)溫度上升,讓試驗(yàn)箱內(nèi)各個(gè)部位的溫度充分穩(wěn)定以后再上升濕度,可以避免結(jié)露。
4.溫度由低到高的急劇變化,熱容量大的部位如試驗(yàn)箱內(nèi)部的壁面、試樣等容易結(jié)露。熱容量小的空氣,溫度上升比較容易。而熱容量大的如試驗(yàn)箱內(nèi)的各個(gè)部位,溫度上升不太容易,因此造成空氣和試驗(yàn)箱內(nèi)部各個(gè)部位出現(xiàn)溫度差,容易產(chǎn)生結(jié)露。對(duì)于這種情況,降低試驗(yàn)箱內(nèi)部空氣的露點(diǎn)溫度,或者將試驗(yàn)箱內(nèi)部的空氣換成低露點(diǎn)溫度的空氣。
選擇需要了解些什么
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